Documents disponibles dans la sous-collection

Fiabilité des LED infrarouges / Yannick Deshayes

Public ISBD Titre : Fiabilité des LED infrarouges : méthodologie d'évaluation par la physique des défaillances Type de document : texte imprimé Auteurs : Yannick Deshayes, Auteur ; Laurent Bechou, Auteur Editeur : London : ISTE éditions Année de publication : 2017 Collection : Electronique Sous-collection : Série durabilité, robustesse et fiabilité des dispositifs photoniques num. Vol. 1 Importance : 174 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-1-7840-5219-5 Note générale : Bibliogr. p. [171] . - Index Langues : Français (fre) Mots-clés : Diodes  électroluminescentes Temps  entre  défaillances,  Analyse  des Composants  électroniques  --  Fiabilité Composants  électroniques  --  Détérioration Index. décimale : 535-1 Ondes longues.Infrarouge Résumé : De nos jours, la fiabilité est devenue un centre d'intérêt et un véritable enjeu pour l'industrie mais également pour les laboratoires de recherche. Cet ouvrage traite des méthodes modernes pour effectuer une analyse par la physique des défaillances de LED infrarouges. Il est désormais très rare d'effectuer des recherches fondamentales sans avoir une possibilité d'intégrer ces nouveaux dispositifs au sein d'une application bien identifiée. Les méthodes proposées dans Fiabilité des LED infrarouges permettent de comprendre l'ensemble des méthodes d'analyses de défaillance avec des résultats issus de cas d'études réalisés au laboratoire IMS, en prenant exemple sur un composant simple : la LED. La physique des défaillances, la détermination de loi physique de défaillance ainsi que le calcul de la distribution de durée de vie sont ainsi abordés. Note de contenu : Au sommaire : 1. Etat de l’art des technologies infrarouges. 2. Analyses et modèles d’une LED. 3. Principes physiques des défaillances. 4. Méthodologies d’analyse de la fiabilité. Fiabilité des LED infrarouges : méthodologie d'évaluation par la physique des défaillances [texte imprimé] / Yannick Deshayes, Auteur ; Laurent Bechou, Auteur . - ISTE éditions, 2017 . - 174 p. : ill. ; 24 cm. - (Electronique. Série durabilité, robustesse et fiabilité des dispositifs photoniques; Vol. 1) . ISBN : 978-1-7840-5219-5 Bibliogr. p. [171] . - Index Langues : Français (fre) Mots-clés : Diodes  électroluminescentes Temps  entre  défaillances,  Analyse  des Composants  électroniques  --  Fiabilité Composants  électroniques  --  Détérioration Index. décimale : 535-1 Ondes longues.Infrarouge Résumé : De nos jours, la fiabilité est devenue un centre d'intérêt et un véritable enjeu pour l'industrie mais également pour les laboratoires de recherche. Cet ouvrage traite des méthodes modernes pour effectuer une analyse par la physique des défaillances de LED infrarouges. Il est désormais très rare d'effectuer des recherches fondamentales sans avoir une possibilité d'intégrer ces nouveaux dispositifs au sein d'une application bien identifiée. Les méthodes proposées dans Fiabilité des LED infrarouges permettent de comprendre l'ensemble des méthodes d'analyses de défaillance avec des résultats issus de cas d'études réalisés au laboratoire IMS, en prenant exemple sur un composant simple : la LED. La physique des défaillances, la détermination de loi physique de défaillance ainsi que le calcul de la distribution de durée de vie sont ainsi abordés. Note de contenu : Au sommaire : 1. Etat de l’art des technologies infrarouges. 2. Analyses et modèles d’une LED. 3. Principes physiques des défaillances. 4. Méthodologies d’analyse de la fiabilité.

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité	Etat_Exemplaire
057983	535-1 DES	Papier	Bibliothèque Centrale	Physique	Disponible	En bon état
057984	535-1 DES	Papier	Bibliothèque Centrale	Physique	Disponible	Consultation sur place