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Sous-collection Série durabilité, robustesse et fiabilité des dispositifs photoniques
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Titre : Fiabilité des LED infrarouges : méthodologie d'évaluation par la physique des défaillances Type de document : texte imprimé Auteurs : Yannick (1972-....) Deshayes, Auteur ; Laurent Bechou, Auteur Editeur : London : ISTE éditions Année de publication : 2017 Collection : Collection électronique Sous-collection : Série durabilité, robustesse et fiabilité des dispositifs photoniques num. Vol. 1 Importance : 174 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-1-78405-219-5 Note générale : Bibliogr. p. [171] . - Index Langues : Français (fre) Mots-clés : Diodes électroluminescentes
Temps entre défaillances, Analyse des
Composants électroniques -- Fiabilité
Composants électroniques -- DétériorationIndex. décimale : 535-1 Ondes longues.Infrarouge Résumé :
De nos jours, la fiabilité est devenue un centre d'intérêt et un véritable enjeu pour l'industrie mais également pour les laboratoires de recherche. Cet ouvrage traite des méthodes modernes pour effectuer une analyse par la physique des défaillances de LED infrarouges. Il est désormais très rare d'effectuer des recherches fondamentales sans avoir une possibilité d'intégrer ces nouveaux dispositifs au sein d'une application bien identifiée. Les méthodes proposées dans Fiabilité des LED infrarouges permettent de comprendre l'ensemble des méthodes d'analyses de défaillance avec des résultats issus de cas d'études réalisés au laboratoire IMS, en prenant exemple sur un composant simple : la LED. La physique des défaillances, la détermination de loi physique de défaillance ainsi que le calcul de la distribution de durée de vie sont ainsi abordés.Note de contenu : Au sommaire :
1. Etat de l’art des technologies infrarouges.
2. Analyses et modèles d’une LED.
3. Principes physiques des défaillances.
4. Méthodologies d’analyse de la fiabilité.Fiabilité des LED infrarouges : méthodologie d'évaluation par la physique des défaillances [texte imprimé] / Yannick (1972-....) Deshayes, Auteur ; Laurent Bechou, Auteur . - London : ISTE éditions, 2017 . - 174 p. : ill. ; 24 cm. - (Collection électronique. Série durabilité, robustesse et fiabilité des dispositifs photoniques; Vol. 1) .
ISBN : 978-1-78405-219-5
Bibliogr. p. [171] . - Index
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Diodes électroluminescentes
Temps entre défaillances, Analyse des
Composants électroniques -- Fiabilité
Composants électroniques -- DétériorationIndex. décimale : 535-1 Ondes longues.Infrarouge Résumé :
De nos jours, la fiabilité est devenue un centre d'intérêt et un véritable enjeu pour l'industrie mais également pour les laboratoires de recherche. Cet ouvrage traite des méthodes modernes pour effectuer une analyse par la physique des défaillances de LED infrarouges. Il est désormais très rare d'effectuer des recherches fondamentales sans avoir une possibilité d'intégrer ces nouveaux dispositifs au sein d'une application bien identifiée. Les méthodes proposées dans Fiabilité des LED infrarouges permettent de comprendre l'ensemble des méthodes d'analyses de défaillance avec des résultats issus de cas d'études réalisés au laboratoire IMS, en prenant exemple sur un composant simple : la LED. La physique des défaillances, la détermination de loi physique de défaillance ainsi que le calcul de la distribution de durée de vie sont ainsi abordés.Note de contenu : Au sommaire :
1. Etat de l’art des technologies infrarouges.
2. Analyses et modèles d’une LED.
3. Principes physiques des défaillances.
4. Méthodologies d’analyse de la fiabilité.Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 057983 535-1 DES Papier Bibliothèque Centrale Physique Disponible En bon état 057984 535-1 DES Papier Bibliothèque Centrale Physique Disponible Consultation sur place
Titre : Méthodologies d'analyse de la fiabilité de dispositifs à LED Type de document : texte imprimé Auteurs : Françoise (1985-....) Baillot, Auteur ; Yannick (1972-....) Deshayes, Auteur Editeur : London : ISTE éditions Année de publication : 2017 Collection : Collection électronique Sous-collection : Série durabilité, robustesse et fiabilité des dispositifs photoniques num. Volume 2 Importance : 236 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-1-78405-279-9 Note générale : Bibliogr. p. [223]-234. - Index Langues : Français (fre) Mots-clés : Diodes électroluminescentes -- Fiabilité Index. décimale : 535.376 Luminescence due à la rencontre de particules chargées. Électroluminescence Résumé : Les technologies à base de nitrure de gallium (GaN) sont au coeur du développement de l’éclairage moderne à LED.Méthodologies d’analyse de la fiabilité de dispositifs à LED traite de l’état de l’art des technologies LED à base de GaN et se focalise principalement sur l’identification des phénomènes de dégradation. Il présente les outils et les analyses mises en oeuvre dans les études et applications de différents dispositifs à LED et offre une revue des différents mécanismes de défaillance utilisant les modèles électro-optiques.L’identification et la cause de la défaillance sont abordées de manière très précise afin de donner au lecteur une méthodologie d’analyse efficace de dispositifs d’éclairage à LED. Cet ouvrage est donc basé sur des cas réels avec un modèle électrique et optique très fidèle mais relativement abordable. Note de contenu : Au sommaire :
1. Diodes électroluminescentes : état de l'art des technologies GaN
2. Outils et méthodes d'analyse de LED encapsulées
3. Méthodologie d'analyse de défaillance de LED bleues
4. Intégration de la méthodologie dès la conception d'un composantMéthodologies d'analyse de la fiabilité de dispositifs à LED [texte imprimé] / Françoise (1985-....) Baillot, Auteur ; Yannick (1972-....) Deshayes, Auteur . - London : ISTE éditions, 2017 . - 236 p. : ill. ; 24 cm. - (Collection électronique. Série durabilité, robustesse et fiabilité des dispositifs photoniques; Volume 2) .
ISBN : 978-1-78405-279-9
Bibliogr. p. [223]-234. - Index
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Diodes électroluminescentes -- Fiabilité Index. décimale : 535.376 Luminescence due à la rencontre de particules chargées. Électroluminescence Résumé : Les technologies à base de nitrure de gallium (GaN) sont au coeur du développement de l’éclairage moderne à LED.Méthodologies d’analyse de la fiabilité de dispositifs à LED traite de l’état de l’art des technologies LED à base de GaN et se focalise principalement sur l’identification des phénomènes de dégradation. Il présente les outils et les analyses mises en oeuvre dans les études et applications de différents dispositifs à LED et offre une revue des différents mécanismes de défaillance utilisant les modèles électro-optiques.L’identification et la cause de la défaillance sont abordées de manière très précise afin de donner au lecteur une méthodologie d’analyse efficace de dispositifs d’éclairage à LED. Cet ouvrage est donc basé sur des cas réels avec un modèle électrique et optique très fidèle mais relativement abordable. Note de contenu : Au sommaire :
1. Diodes électroluminescentes : état de l'art des technologies GaN
2. Outils et méthodes d'analyse de LED encapsulées
3. Méthodologie d'analyse de défaillance de LED bleues
4. Intégration de la méthodologie dès la conception d'un composantRéservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 058797 535.376 BAI Papier Bibliothèque Centrale Electronique Disponible En bon état 058798 535.376 BAI Papier Bibliothèque Centrale Electronique Disponible Consultation sur place
