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Ajouter le résultat dans votre panier Faire une suggestion Affiner la rechercheAmorphous and liquid semiconductors / International conference on amorphous and liquid semiconductors (24-27 September 1969; Cvendish laboratory, Cambridge, England) (1970)
Titre : Amorphous and liquid semiconductors : proceedings Type de document : texte imprimé Auteurs : Nevill Francis Mott, Éditeur scientifique Congrès : International conference on amorphous and liquid semiconductors (24-27 September 1969; Cvendish laboratory, Cambridge, England), Auteur Editeur : Amsterdam : North-Holland publishing company Année de publication : 1970 Importance : XII, 626 p. Présentation : ill. Format : 24 cm Note générale : Extract from the review " Journal of non-crystalline solids : a journal devoted to glasses and amorphous materials. vol. 4". - Bibliogr. at the end of chapters. - Index Langues : Anglais (eng) Mots-clés : Semiconducteurs amorphes -- Actes de congrès
Amorphous semiconductors -- CongressesIndex. décimale : 621.382 Dispositifs électroniques utilisant les effets des corps solides. Dispositifs semi-conducteurs Note de contenu : Summary :
1. Electrical, optical and structural properties of amorphous semiconductors, part 1
2. Liquid semiconductors
3. Impurity conduction and conduction in glasses containing transition metal ions
4. Electrical, optical and structural properties of amorphous semiconductors, part 2
5. Theory
6. Non-Ohmic behaviour and swithchingAmorphous and liquid semiconductors : proceedings [texte imprimé] / Nevill Francis Mott, Éditeur scientifique / International conference on amorphous and liquid semiconductors (24-27 September 1969; Cvendish laboratory, Cambridge, England), Auteur . - Amsterdam : North-Holland publishing company, 1970 . - XII, 626 p. : ill. ; 24 cm.
Extract from the review " Journal of non-crystalline solids : a journal devoted to glasses and amorphous materials. vol. 4". - Bibliogr. at the end of chapters. - Index
Langues : Anglais (eng)
Mots-clés : Semiconducteurs amorphes -- Actes de congrès
Amorphous semiconductors -- CongressesIndex. décimale : 621.382 Dispositifs électroniques utilisant les effets des corps solides. Dispositifs semi-conducteurs Note de contenu : Summary :
1. Electrical, optical and structural properties of amorphous semiconductors, part 1
2. Liquid semiconductors
3. Impurity conduction and conduction in glasses containing transition metal ions
4. Electrical, optical and structural properties of amorphous semiconductors, part 2
5. Theory
6. Non-Ohmic behaviour and swithchingRéservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 011629 621.382 INT Papier Bibliothèque Centrale Electronique Disponible En bon état 011630 621.382 INT Papier Bibliothèque Centrale Electronique Disponible Consultation sur place
Titre : Asymptotic methods in analysis Type de document : texte imprimé Auteurs : N. G. de Bruijn, Auteur Mention d'édition : 3th ed Editeur : Amsterdam : North-Holland publishing company Année de publication : 1970 Collection : Bibliotheca mathematica Sous-collection : A series of monographs on pure and applied mathematics num. Vol. 4 Importance : XII-198 p. Présentation : ill. Format : 23 cm Note générale : Index Langues : Anglais (eng) Mots-clés : Analyse numérique
Analyse mathématique
Numerical analysis
Mathematical analysisIndex. décimale : 517 Analyse mathématique Note de contenu : Contents :
1. Introduction.
2. Implicit functions.
3. Summation.
4. The laplace method for integrals.
5. The saddle point method.
6. Applications of the saddle point method.
7. Indirect asymptotics.
8. Iterated functions.Asymptotic methods in analysis [texte imprimé] / N. G. de Bruijn, Auteur . - 3th ed . - Amsterdam : North-Holland publishing company, 1970 . - XII-198 p. : ill. ; 23 cm. - (Bibliotheca mathematica. A series of monographs on pure and applied mathematics; Vol. 4) .
Index
Langues : Anglais (eng)
Mots-clés : Analyse numérique
Analyse mathématique
Numerical analysis
Mathematical analysisIndex. décimale : 517 Analyse mathématique Note de contenu : Contents :
1. Introduction.
2. Implicit functions.
3. Summation.
4. The laplace method for integrals.
5. The saddle point method.
6. Applications of the saddle point method.
7. Indirect asymptotics.
8. Iterated functions.Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 015315 517 BRU Papier Bibliothèque Annexe Mathématiques Disponible Consultation sur place 013115 517 BRU Papier Bibliothèque Annexe Mathématiques Disponible En bon état 015316 517 BRU Papier Bibliothèque Annexe Mathématiques Disponible En bon état 015319 517 BRU Papier Bibliothèque Annexe Mathématiques Disponible En bon état 013114 517 BRU Papier Bibliothèque Annexe Mathématiques Disponible En bon état 013116 517 BRU Papier Bibliothèque Annexe Mathématiques Disponible En bon état 015318 517 BRU Papier Bibliothèque Centrale Mathématiques Disponible En bon état 015317 517 BRU Papier Bibliothèque Centrale Mathématiques Disponible En bon état
Titre : Direct analysis of diffraction by matter Type de document : texte imprimé Auteurs : Rolf Hosemann, Auteur ; S. N. Bagghi, Auteur Editeur : Amsterdam : North-Holland publishing company Année de publication : 1962 Importance : XXI, 734 p. Présentation : ill. Format : 25 cm Note générale : Bibliogr. p. 688-700. - Index Langues : Anglais (eng) Mots-clés : Diffraction
Structure cristalline (solides)
Rayons X -- Diffraction
RadiocristallographieIndex. décimale : 541.2 Théorie atomique Note de contenu : Summary :
1. Fundamental equations of diffraction of wave fields.
2. Convolution opérations.
3. Fourier transformation.
4. Convolution polynomials.
5. Fundamentals of function algebra.
6. Fundamentals of diffraction microscopy.
7. General basic properties of structure.
8. The single crystal.
...Direct analysis of diffraction by matter [texte imprimé] / Rolf Hosemann, Auteur ; S. N. Bagghi, Auteur . - Amsterdam : North-Holland publishing company, 1962 . - XXI, 734 p. : ill. ; 25 cm.
Bibliogr. p. 688-700. - Index
Langues : Anglais (eng)
Mots-clés : Diffraction
Structure cristalline (solides)
Rayons X -- Diffraction
RadiocristallographieIndex. décimale : 541.2 Théorie atomique Note de contenu : Summary :
1. Fundamental equations of diffraction of wave fields.
2. Convolution opérations.
3. Fourier transformation.
4. Convolution polynomials.
5. Fundamentals of function algebra.
6. Fundamentals of diffraction microscopy.
7. General basic properties of structure.
8. The single crystal.
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 002314 541.2 HOS Papier Bibliothèque Annexe Chimie Disponible Consultation sur place
Titre : Formal structure of electromagnetics : general covariance and electromagnetics Type de document : texte imprimé Auteurs : E. J. Post, Auteur Editeur : Amsterdam : North-Holland publishing company Année de publication : 1962 Importance : XIV, 204 p. Présentation : ill. Format : 21 cm Note générale : Bibliogr p. 201-202. -Index Langues : Anglais (eng) Mots-clés : Electromagnetic theory
Transformations (Mathematics)Index. décimale : 535.13 Théorie électromagnétique (Maxwell) Résumé :
This book presents an explicit treatment of the principle of general covariance as applied to electromagnetics, de emphasizing the customary close association between general covariance and relativity.Note de contenu : Summary :
1. Introduction.
2. Transformation behavior and dimensional properties of physical fields.
I. The fild equation.
3. Natural invariance of the Maxwell equations.
4. Variationa aspects.
5. Lagrangians.
II. The medium.
6. General properties of the medium.
7. Nonuniformity, anisotropy and general coordinates in three-space.
8. Reciprocity and nonreciprocity.
9. Matter-free space with a graviational field.
Formal structure of electromagnetics : general covariance and electromagnetics [texte imprimé] / E. J. Post, Auteur . - Amsterdam : North-Holland publishing company, 1962 . - XIV, 204 p. : ill. ; 21 cm.
Bibliogr p. 201-202. -Index
Langues : Anglais (eng)
Mots-clés : Electromagnetic theory
Transformations (Mathematics)Index. décimale : 535.13 Théorie électromagnétique (Maxwell) Résumé :
This book presents an explicit treatment of the principle of general covariance as applied to electromagnetics, de emphasizing the customary close association between general covariance and relativity.Note de contenu : Summary :
1. Introduction.
2. Transformation behavior and dimensional properties of physical fields.
I. The fild equation.
3. Natural invariance of the Maxwell equations.
4. Variationa aspects.
5. Lagrangians.
II. The medium.
6. General properties of the medium.
7. Nonuniformity, anisotropy and general coordinates in three-space.
8. Reciprocity and nonreciprocity.
9. Matter-free space with a graviational field.
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 013423 535.13 POS Papier Bibliothèque Centrale Physique Disponible Consultation sur place
Titre : Geodesy : the concepts Type de document : texte imprimé Auteurs : Petr Vanicek, Auteur ; Edward J. Krakiwsky Mention d'édition : 2 éd Editeur : Amsterdam : North-Holland publishing company Année de publication : 1986 Importance : XV-697p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-444-87777-2 Note générale : Bibliogr. p. 657-659. Index Langues : Anglais (eng) Mots-clés : Geodesy Géodésie Index. décimale : 528 Géodésie. Topographie. Arpentage. Photogrammétrie. Cartographie. Note de contenu : Summary:
1. Introduction
2. The earth
3. Methodology
4. Positioning
5. Earth's gravity field
6. Temporal variations
* References
* IndexGeodesy : the concepts [texte imprimé] / Petr Vanicek, Auteur ; Edward J. Krakiwsky . - 2 éd . - Amsterdam : North-Holland publishing company, 1986 . - XV-697p. : ill. ; 24 cm.
ISBN : 978-0-444-87777-2
Bibliogr. p. 657-659. Index
Langues : Anglais (eng)
Mots-clés : Geodesy Géodésie Index. décimale : 528 Géodésie. Topographie. Arpentage. Photogrammétrie. Cartographie. Note de contenu : Summary:
1. Introduction
2. The earth
3. Methodology
4. Positioning
5. Earth's gravity field
6. Temporal variations
* References
* IndexRéservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 035782 528 VAN Papier Bibliothèque Centrale Génie Civil Disponible
