| Titre : |
Microelectronique avancée. Tome 2 |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Union des associations techniques internationales, Éditeur scientifique ; Société française des électroniciens et radioélectriciens, Éditeur scientifique |
| Congrès : |
Colloque international sur la microélectronique avancée (6-10 avril 1970; Paris), Auteur |
| Editeur : |
Paris : Chiron |
| Année de publication : |
1970 |
| Importance : |
P. 616-1261 |
| Présentation : |
ill. |
| Format : |
25 cm |
| Note générale : |
Index |
| Langues : |
Français (fre) |
| Mots-clés : |
Microélectronique -- Actes de congrès |
| Index. décimale : |
621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. |
| Note de contenu : |
Au sommaire :
1. Applications des techniques électroniques et ioniques à la réduction de dimension de composants semi-conducteurs.
2. Projection d'une image électronique pour l'exposition du dessin de circuits intégrés.
3. Le masquage électronique et l'implantation ionique, procédés et résultats.
4. Appareillage et production de circuits de très petite dimension.
5. Découvertes dans les technologies standard pour la fabrication de composants au silicium d'avant-garde.
6. Résultats récents obtenus dans le domaine des circuits monolithiques.
7. La diffusion anormale de la base dans les transistors.
8. Propriétés physiques, optiques et électroniques de couches monomoléculaires organiques.
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Microelectronique avancée. Tome 2 (1970)
