| Titre : |
Fiabilité des LED infrarouges : méthodologie d'évaluation par la physique des défaillances |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Yannick (1972-....) Deshayes, Auteur ; Laurent Bechou, Auteur |
| Editeur : |
London : ISTE éditions |
| Année de publication : |
2017 |
| Collection : |
Collection électronique |
| Sous-collection : |
Série durabilité, robustesse et fiabilité des dispositifs photoniques num. Vol. 1 |
| Importance : |
174 p. |
| Présentation : |
ill. |
| Format : |
24 cm |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-1-78405-219-5 |
| Note générale : |
Bibliogr. p. [171] . - Index |
| Langues : |
Français (fre) |
| Mots-clés : |
Diodes électroluminescentes
Temps entre défaillances, Analyse des
Composants électroniques -- Fiabilité
Composants électroniques -- Détérioration |
| Index. décimale : |
535-1 Ondes longues.Infrarouge |
| Résumé : |
De nos jours, la fiabilité est devenue un centre d'intérêt et un véritable enjeu pour l'industrie mais également pour les laboratoires de recherche. Cet ouvrage traite des méthodes modernes pour effectuer une analyse par la physique des défaillances de LED infrarouges. Il est désormais très rare d'effectuer des recherches fondamentales sans avoir une possibilité d'intégrer ces nouveaux dispositifs au sein d'une application bien identifiée. Les méthodes proposées dans Fiabilité des LED infrarouges permettent de comprendre l'ensemble des méthodes d'analyses de défaillance avec des résultats issus de cas d'études réalisés au laboratoire IMS, en prenant exemple sur un composant simple : la LED. La physique des défaillances, la détermination de loi physique de défaillance ainsi que le calcul de la distribution de durée de vie sont ainsi abordés. |
| Note de contenu : |
Au sommaire :
1. Etat de l’art des technologies infrarouges.
2. Analyses et modèles d’une LED.
3. Principes physiques des défaillances.
4. Méthodologies d’analyse de la fiabilité. |
Fiabilité des LED infrarouges : méthodologie d'évaluation par la physique des défaillances [texte imprimé] / Yannick (1972-....) Deshayes, Auteur ; Laurent Bechou, Auteur . - London : ISTE éditions, 2017 . - 174 p. : ill. ; 24 cm. - ( Collection électronique. Série durabilité, robustesse et fiabilité des dispositifs photoniques; Vol. 1) . ISBN : 978-1-78405-219-5 Bibliogr. p. [171] . - Index Langues : Français ( fre)
| Mots-clés : |
Diodes électroluminescentes
Temps entre défaillances, Analyse des
Composants électroniques -- Fiabilité
Composants électroniques -- Détérioration |
| Index. décimale : |
535-1 Ondes longues.Infrarouge |
| Résumé : |
De nos jours, la fiabilité est devenue un centre d'intérêt et un véritable enjeu pour l'industrie mais également pour les laboratoires de recherche. Cet ouvrage traite des méthodes modernes pour effectuer une analyse par la physique des défaillances de LED infrarouges. Il est désormais très rare d'effectuer des recherches fondamentales sans avoir une possibilité d'intégrer ces nouveaux dispositifs au sein d'une application bien identifiée. Les méthodes proposées dans Fiabilité des LED infrarouges permettent de comprendre l'ensemble des méthodes d'analyses de défaillance avec des résultats issus de cas d'études réalisés au laboratoire IMS, en prenant exemple sur un composant simple : la LED. La physique des défaillances, la détermination de loi physique de défaillance ainsi que le calcul de la distribution de durée de vie sont ainsi abordés. |
| Note de contenu : |
Au sommaire :
1. Etat de l’art des technologies infrarouges.
2. Analyses et modèles d’une LED.
3. Principes physiques des défaillances.
4. Méthodologies d’analyse de la fiabilité. |
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