Catalogue en ligne Bibliothèque de l'Ecole Nationale Polytechnique

Les Inscriptions à la Bibliothèque sont ouvertes en ligne via le site: https://biblio.enp.edu.dz

Les Réinscriptions se font à :

• La Bibliothèque Annexe pour les étudiants en 2ème Année CPST

• La Bibliothèque Centrale pour les étudiants en Spécialités

A partir de cette page vous pouvez :

Retourner au premier écran avec les recherches...

Détail de l'auteur

Auteur Graydon B. Larrabee

Documents disponibles écrits par cet auteur

Faire une suggestion Affiner la recherche

Characterization of semiconductor materials / Philip F. Kane

Public

ISBD

Titre : Characterization of semiconductor materials
Type de document : texte imprimé
Auteurs : Philip F. Kane, Auteur ; Graydon B. Larrabee, Auteur
Editeur : New York : McGraw-Hill
Année de publication : 1970
Collection : Texas instruments electronics series
Importance : XVI, 351 p.
Présentation : ill.
Format : 26 cm
Note générale : Bibliogr. p. 331-333. - Index
Langues : Anglais (eng)
Mots-clés : Semiconducteurs
Index. décimale : 621.382 Dispositifs électroniques utilisant les effets des corps solides. Dispositifs semi-conducteurs
Note de contenu : Summary :
1. Introduction.
2. Semiconductor principles.
3. Bulk-material characterization.
4. Materials characterization in single-crystal grawth.
5. Analysis of signle crystals for chemical imperfections.
6. Characterization of signle crystals for physical imperfections.
7. Caracterization of semiconductor surfaces.
8. Characterization of epitaxial films.
9. Diffusion.
10. Characterization of thin films.

Characterization of semiconductor materials [texte imprimé] / Philip F. Kane, Auteur ; Graydon B. Larrabee, Auteur . - McGraw-Hill, 1970 . - XVI, 351 p. : ill. ; 26 cm. - (Texas instruments electronics series) .
Bibliogr. p. 331-333. - Index
Langues : Anglais (eng)
Mots-clés : Semiconducteurs
Index. décimale : 621.382 Dispositifs électroniques utilisant les effets des corps solides. Dispositifs semi-conducteurs
Note de contenu : Summary :
1. Introduction.
2. Semiconductor principles.
3. Bulk-material characterization.
4. Materials characterization in single-crystal grawth.
5. Analysis of signle crystals for chemical imperfections.
6. Characterization of signle crystals for physical imperfections.
7. Caracterization of semiconductor surfaces.
8. Characterization of epitaxial films.
9. Diffusion.
10. Characterization of thin films.

Exemplaires

Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire
010101 621.382 KAN Papier Bibliothèque Centrale Electronique Disponible Consultation sur place

Détail de l'auteur

Auteur Graydon B. Larrabee

Documents disponibles écrits par cet auteur

Exemplaires

Bibliothèque de l'Ecole Nationale Polytechnique

Accueil

Se connecter

Météo

Adresse

Horaires d'ouverture :