Nos Abonnements
Ressources Électroniques
Détail de l'auteur
Auteur Société française des électroniciens et radioélectriciens |
Documents disponibles écrits par cet auteur (2)
Ajouter le résultat dans votre panier Faire une suggestion Affiner la rechercheMicroelectronique avancée. Tome 1 / Colloque international sur la microélectronique avancée (6-10 avril 1970; Paris) (1970)
Titre : Microelectronique avancée. Tome 1 Type de document : texte imprimé Auteurs : Union des associations techniques internationales, Éditeur scientifique ; Société française des électroniciens et radioélectriciens, Éditeur scientifique Congrès : Colloque international sur la microélectronique avancée (6-10 avril 1970; Paris), Auteur Editeur : Paris : Chiron Année de publication : 1970 Importance : 605 p. Présentation : ill. Format : 25 cm Note générale : Notes bibliogr. -Index Langues : Français (fre) Mots-clés : Microélectronique -- Actes de congrès Index. décimale : 621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. Note de contenu : Au sommaire :
1. Isolants de grande qualité pour les applications en microélectronique.
2. Possibilités d'avenir de la technologie silicium sur isolant pour mémoires mortes rapides.
3. Dispositifs électroluminescents intégrés.
4. Limites de la technologie mis complémentaires.
5. Le dopage par implantation ionique appliqué à la réalisation de dispositifs a semi-conducteurs.
6. Application de l’implantation ionique à la fabrication de circuits intégrés.
7. Couches semi-conductrices produites dans un diamant dope par implantation ionique.
8. Technologie et caractéristiques d'un transistor MOS réalisé par implantation ionique.
...Microelectronique avancée. Tome 1 [texte imprimé] / Union des associations techniques internationales, Éditeur scientifique ; Société française des électroniciens et radioélectriciens, Éditeur scientifique / Colloque international sur la microélectronique avancée (6-10 avril 1970; Paris), Auteur . - Paris : Chiron, 1970 . - 605 p. : ill. ; 25 cm.
Notes bibliogr. -Index
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Microélectronique -- Actes de congrès Index. décimale : 621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. Note de contenu : Au sommaire :
1. Isolants de grande qualité pour les applications en microélectronique.
2. Possibilités d'avenir de la technologie silicium sur isolant pour mémoires mortes rapides.
3. Dispositifs électroluminescents intégrés.
4. Limites de la technologie mis complémentaires.
5. Le dopage par implantation ionique appliqué à la réalisation de dispositifs a semi-conducteurs.
6. Application de l’implantation ionique à la fabrication de circuits intégrés.
7. Couches semi-conductrices produites dans un diamant dope par implantation ionique.
8. Technologie et caractéristiques d'un transistor MOS réalisé par implantation ionique.
...Réservation
Réserver ce document
Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 013449 621.385.833 COL Papier Bibliothèque Centrale Electronique Disponible Consultation sur place
Titre : Microelectronique avancée. Tome 2 Type de document : texte imprimé Auteurs : Union des associations techniques internationales, Éditeur scientifique ; Société française des électroniciens et radioélectriciens, Éditeur scientifique Congrès : Colloque international sur la microélectronique avancée (6-10 avril 1970; Paris), Auteur Editeur : Paris : Chiron Année de publication : 1970 Importance : P. 616-1261 Présentation : ill. Format : 25 cm Note générale : Index Langues : Français (fre) Mots-clés : Microélectronique -- Actes de congrès Index. décimale : 621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. Note de contenu : Au sommaire :
1. Applications des techniques électroniques et ioniques à la réduction de dimension de composants semi-conducteurs.
2. Projection d'une image électronique pour l'exposition du dessin de circuits intégrés.
3. Le masquage électronique et l'implantation ionique, procédés et résultats.
4. Appareillage et production de circuits de très petite dimension.
5. Découvertes dans les technologies standard pour la fabrication de composants au silicium d'avant-garde.
6. Résultats récents obtenus dans le domaine des circuits monolithiques.
7. La diffusion anormale de la base dans les transistors.
8. Propriétés physiques, optiques et électroniques de couches monomoléculaires organiques.
...Microelectronique avancée. Tome 2 [texte imprimé] / Union des associations techniques internationales, Éditeur scientifique ; Société française des électroniciens et radioélectriciens, Éditeur scientifique / Colloque international sur la microélectronique avancée (6-10 avril 1970; Paris), Auteur . - Paris : Chiron, 1970 . - P. 616-1261 : ill. ; 25 cm.
Index
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Microélectronique -- Actes de congrès Index. décimale : 621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. Note de contenu : Au sommaire :
1. Applications des techniques électroniques et ioniques à la réduction de dimension de composants semi-conducteurs.
2. Projection d'une image électronique pour l'exposition du dessin de circuits intégrés.
3. Le masquage électronique et l'implantation ionique, procédés et résultats.
4. Appareillage et production de circuits de très petite dimension.
5. Découvertes dans les technologies standard pour la fabrication de composants au silicium d'avant-garde.
6. Résultats récents obtenus dans le domaine des circuits monolithiques.
7. La diffusion anormale de la base dans les transistors.
8. Propriétés physiques, optiques et électroniques de couches monomoléculaires organiques.
...Réservation
Réserver ce document
Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 013450 621.385.833 COL Papier Bibliothèque Centrale Electronique Disponible Consultation sur place
