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Auteur Union des associations techniques internationales |
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Ajouter le résultat dans votre panier Faire une suggestion Affiner la rechercheColloque international sur la teleinformatique / Colloque international sur la téléinformatique (24-28 mars 1969; Paris) (1969)
Titre : Colloque international sur la teleinformatique : communication. Tome 2 Type de document : texte imprimé Auteurs : Union des associations techniques internationales, Éditeur scientifique Congrès : Colloque international sur la téléinformatique (24-28 mars 1969; Paris), Auteur Editeur : Paris : Chiron Année de publication : 1969 Importance : P. 648-1246 Présentation : ill. Format : 24 cm Langues : Français (fre) Mots-clés : Téléinformatique -- Actes de congrès Index. décimale : 621.39 Télécommunications. Télégraphie. Téléphonie. Radiocommunication. Technologie et équipement vidéo. Télécontrôle. Note de contenu : Au sommaire :
1. Problèmes lies a la transmission numériques.
* Expose de synthèse.
* La technique et l'importance de la transmission de données sur liaison téléphonique.
* Systèmes correcteurs d'erreurs de transmission de données utilisant des détecteurs de la qualité des signaux.
* Possibilité techniques en transmission de données.
* Les caractéristiques statiques des lignes prévues a l'utilisation dans la transmission de données.
...Colloque international sur la teleinformatique : communication. Tome 2 [texte imprimé] / Union des associations techniques internationales, Éditeur scientifique / Colloque international sur la téléinformatique (24-28 mars 1969; Paris), Auteur . - Paris : Chiron, 1969 . - P. 648-1246 : ill. ; 24 cm.
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Téléinformatique -- Actes de congrès Index. décimale : 621.39 Télécommunications. Télégraphie. Téléphonie. Radiocommunication. Technologie et équipement vidéo. Télécontrôle. Note de contenu : Au sommaire :
1. Problèmes lies a la transmission numériques.
* Expose de synthèse.
* La technique et l'importance de la transmission de données sur liaison téléphonique.
* Systèmes correcteurs d'erreurs de transmission de données utilisant des détecteurs de la qualité des signaux.
* Possibilité techniques en transmission de données.
* Les caractéristiques statiques des lignes prévues a l'utilisation dans la transmission de données.
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 009267 621.39 COL Papier Bibliothèque Annexe Electronique Disponible Consultation sur place
Titre : Microelectronique avancée. Tome 1 Type de document : texte imprimé Auteurs : Union des associations techniques internationales, Éditeur scientifique ; Société française des électroniciens et radioélectriciens, Éditeur scientifique Congrès : Colloque international sur la microélectronique avancée (6-10 avril 1970; Paris), Auteur Editeur : Paris : Chiron Année de publication : 1970 Importance : 605 p. Présentation : ill. Format : 25 cm Note générale : Notes bibliogr. -Index Langues : Français (fre) Mots-clés : Microélectronique -- Actes de congrès Index. décimale : 621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. Note de contenu : Au sommaire :
1. Isolants de grande qualité pour les applications en microélectronique.
2. Possibilités d'avenir de la technologie silicium sur isolant pour mémoires mortes rapides.
3. Dispositifs électroluminescents intégrés.
4. Limites de la technologie mis complémentaires.
5. Le dopage par implantation ionique appliqué à la réalisation de dispositifs a semi-conducteurs.
6. Application de l’implantation ionique à la fabrication de circuits intégrés.
7. Couches semi-conductrices produites dans un diamant dope par implantation ionique.
8. Technologie et caractéristiques d'un transistor MOS réalisé par implantation ionique.
...Microelectronique avancée. Tome 1 [texte imprimé] / Union des associations techniques internationales, Éditeur scientifique ; Société française des électroniciens et radioélectriciens, Éditeur scientifique / Colloque international sur la microélectronique avancée (6-10 avril 1970; Paris), Auteur . - Paris : Chiron, 1970 . - 605 p. : ill. ; 25 cm.
Notes bibliogr. -Index
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Microélectronique -- Actes de congrès Index. décimale : 621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. Note de contenu : Au sommaire :
1. Isolants de grande qualité pour les applications en microélectronique.
2. Possibilités d'avenir de la technologie silicium sur isolant pour mémoires mortes rapides.
3. Dispositifs électroluminescents intégrés.
4. Limites de la technologie mis complémentaires.
5. Le dopage par implantation ionique appliqué à la réalisation de dispositifs a semi-conducteurs.
6. Application de l’implantation ionique à la fabrication de circuits intégrés.
7. Couches semi-conductrices produites dans un diamant dope par implantation ionique.
8. Technologie et caractéristiques d'un transistor MOS réalisé par implantation ionique.
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 013449 621.385.833 COL Papier Bibliothèque Centrale Electronique Disponible Consultation sur place
Titre : Microelectronique avancée. Tome 2 Type de document : texte imprimé Auteurs : Union des associations techniques internationales, Éditeur scientifique ; Société française des électroniciens et radioélectriciens, Éditeur scientifique Congrès : Colloque international sur la microélectronique avancée (6-10 avril 1970; Paris), Auteur Editeur : Paris : Chiron Année de publication : 1970 Importance : P. 616-1261 Présentation : ill. Format : 25 cm Note générale : Index Langues : Français (fre) Mots-clés : Microélectronique -- Actes de congrès Index. décimale : 621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. Note de contenu : Au sommaire :
1. Applications des techniques électroniques et ioniques à la réduction de dimension de composants semi-conducteurs.
2. Projection d'une image électronique pour l'exposition du dessin de circuits intégrés.
3. Le masquage électronique et l'implantation ionique, procédés et résultats.
4. Appareillage et production de circuits de très petite dimension.
5. Découvertes dans les technologies standard pour la fabrication de composants au silicium d'avant-garde.
6. Résultats récents obtenus dans le domaine des circuits monolithiques.
7. La diffusion anormale de la base dans les transistors.
8. Propriétés physiques, optiques et électroniques de couches monomoléculaires organiques.
...Microelectronique avancée. Tome 2 [texte imprimé] / Union des associations techniques internationales, Éditeur scientifique ; Société française des électroniciens et radioélectriciens, Éditeur scientifique / Colloque international sur la microélectronique avancée (6-10 avril 1970; Paris), Auteur . - Paris : Chiron, 1970 . - P. 616-1261 : ill. ; 25 cm.
Index
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Microélectronique -- Actes de congrès Index. décimale : 621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. Note de contenu : Au sommaire :
1. Applications des techniques électroniques et ioniques à la réduction de dimension de composants semi-conducteurs.
2. Projection d'une image électronique pour l'exposition du dessin de circuits intégrés.
3. Le masquage électronique et l'implantation ionique, procédés et résultats.
4. Appareillage et production de circuits de très petite dimension.
5. Découvertes dans les technologies standard pour la fabrication de composants au silicium d'avant-garde.
6. Résultats récents obtenus dans le domaine des circuits monolithiques.
7. La diffusion anormale de la base dans les transistors.
8. Propriétés physiques, optiques et électroniques de couches monomoléculaires organiques.
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