| Titre : |
Cours de l'école de microscopie électronique en science des matériaux |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Ecole d'été du microscopie électronique en sciences des matériaux (21 septembre-3 octobre 1981; Bombannes), Auteur ; Bernard Jouffrey, Éditeur scientifique ; Alain Bourret, Éditeur scientifique ; Christian Collieu, Éditeur scientifique |
| Editeur : |
Paris : Centre national de la recherche scientifique |
| Année de publication : |
1983 |
| Importance : |
XVI-617 p. |
| Présentation : |
ill. |
| Format : |
24 cm |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-2-222-03232-8 |
| Note générale : |
Textes en français et en anglais. Notes bibliogr. Index
|
| Langues : |
Français (fre) |
| Mots-clés : |
Matériaux -- Microscopie -- Actes de congrès
Materials
Electron microscopy
Microscopie électronique -- Actes de congrès
Science des matériaux -- Actes de congrès |
| Index. décimale : |
621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. |
| Résumé : |
Ce livre insiste sur les principes de base des théories nécessaires à la compréhension de certains développements souvent récents de la microscopie conventionnelle ou à balayage, à basse ou haute tensions, dans l'étude des échantillons ou de leurs surfaces. Cet ouvrage essais également de montrer l’intérêt de la minéralogie, les semiconducteurs, les joints de grain, les amorphes, les catalyseurs... |
| Note de contenu : |
Au sommaire :
- Canons a électrons et illumination de l'échantillon
- Lentilles électroniques
- Les systèmes dispersifs en microscopie électronique
- Détection d'électrons en microscopie électronique
- La formation de l'image en microscopie électronique
- Possibilités et réalisations en holographie électronique
- Su quelques aspects des collisions électron-Atome cas élastique et inélastique
- Beam damage contamination and etching
- Diffraction des électrons de haute énergie
... |
Cours de l'école de microscopie électronique en science des matériaux [texte imprimé] / Ecole d'été du microscopie électronique en sciences des matériaux (21 septembre-3 octobre 1981; Bombannes), Auteur ; Bernard Jouffrey, Éditeur scientifique ; Alain Bourret, Éditeur scientifique ; Christian Collieu, Éditeur scientifique . - Paris : Centre national de la recherche scientifique, 1983 . - XVI-617 p. : ill. ; 24 cm. ISBN : 978-2-222-03232-8 Textes en français et en anglais. Notes bibliogr. Index
Langues : Français ( fre)
| Mots-clés : |
Matériaux -- Microscopie -- Actes de congrès
Materials
Electron microscopy
Microscopie électronique -- Actes de congrès
Science des matériaux -- Actes de congrès |
| Index. décimale : |
621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. |
| Résumé : |
Ce livre insiste sur les principes de base des théories nécessaires à la compréhension de certains développements souvent récents de la microscopie conventionnelle ou à balayage, à basse ou haute tensions, dans l'étude des échantillons ou de leurs surfaces. Cet ouvrage essais également de montrer l’intérêt de la minéralogie, les semiconducteurs, les joints de grain, les amorphes, les catalyseurs... |
| Note de contenu : |
Au sommaire :
- Canons a électrons et illumination de l'échantillon
- Lentilles électroniques
- Les systèmes dispersifs en microscopie électronique
- Détection d'électrons en microscopie électronique
- La formation de l'image en microscopie électronique
- Possibilités et réalisations en holographie électronique
- Su quelques aspects des collisions électron-Atome cas élastique et inélastique
- Beam damage contamination and etching
- Diffraction des électrons de haute énergie
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