Electrets, charge storage, and transport in dielectrics / Martin M Perlman (1973)

Public ISBD Titre : Electrets, charge storage, and transport in dielectrics Type de document : texte imprimé Auteurs : Martin M Perlman, Auteur Editeur : Princeton, N.J. : Dielectrics and Insulation Division, Electrochemical Society Année de publication : 1973 Importance : XXIII- 675 p. Format : 23 cm Note générale : "Held as part of the 142d meeting of the Electrochemical Society" Bibliogr. Langues : Anglais (eng) Mots-clés : Diélectriques -- Electrets -- Transport in dielectrics Index. décimale : 621.315.61 Matériaux isolants. Matériaux diélectriques Résumé : At the last conference, held in chicago in Oct.1967, it was evident that the electret, that peculiar anomally exhibiting the fascinating phenomenon of net surface charge reversal and growth, was really quite comprehnsible, and a potentially theories were successfully developed, and a start was made on a general theory of non-isothermal transients. Electrets, charge storage, and transport in dielectrics [texte imprimé] / Martin M Perlman, Auteur . - Princeton, N.J. : Dielectrics and Insulation Division, Electrochemical Society, 1973 . - XXIII- 675 p. ; 23 cm. "Held as part of the 142d meeting of the Electrochemical Society" Bibliogr. Langues : Anglais (eng) Mots-clés : Diélectriques -- Electrets -- Transport in dielectrics Index. décimale : 621.315.61 Matériaux isolants. Matériaux diélectriques Résumé : At the last conference, held in chicago in Oct.1967, it was evident that the electret, that peculiar anomally exhibiting the fascinating phenomenon of net surface charge reversal and growth, was really quite comprehnsible, and a potentially theories were successfully developed, and a start was made on a general theory of non-isothermal transients.

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Les isolants / Christiane Bonnelle (2010)

Public ISBD Titre : Les isolants : physique de la localisation des porteurs de charge : applications aux phénomènes d'endommagement Type de document : texte imprimé Auteurs : Christiane Bonnelle, Auteur ; Guy Blaise, Auteur ; Claude Le Gressus, Auteur ; Daniel Tréheux, Auteur Editeur : Paris : Tec & Doc Année de publication : 2010 Autre Editeur : Paris : Hermes Science Publications Importance : 340 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7430-1229-8 Langues : Français (fre) Mots-clés : Isolants -- Détérioration Isolants -- Qualité Matériaux -- Détérioration Cristallographie -- Théorie quantique Milieux continus, Mécanique des -- Endommagement, Mécanique de l' (milieux continus) Index. décimale : 621.315.61 Matériaux isolants. Matériaux diélectriques Résumé : Les problèmes technologiques associés à la fabrication et à l’utilisation des matériaux isolants demeurent nombreux et sont souvent récurrents dans beaucoup de secteurs industriels. Cette situation reflète les insuffisances des théories de l’endommagement des isolants. Cet ouvrage propose un nouveau modèle d’endommagement des isolants et des mesures permettant d’en prévoir les comportements. Les phénomènes de claquage, de fracture et d’usure sont ensuite expliqués à travers ce modèle. Des applications à des problèmes technologiques variés sont présentées et plusieurs stratégies d’amélioration des matériaux y sont proposées. Les auteurs précisent les caractérisations à effectuer dans un microscope électronique à balayage pour évaluer la qualité des isolants. L’exposé de cette méthode comporte plusieurs développements originaux essentiels à la maîtrise technologique de ce type de matériaux. Les isolants constitue un mémento original destiné à servir de guide pratique aux ingénieurs et aux chefs de projet concernés par la maîtrise technologique des isolants. Il contribuera aussi à la formation d’étudiants et à la sensibilisation de chercheurs à des nouvelles approches fondamentales des isolants. Note de contenu : Au sommaire : 1. Perturbation du champ cristallin et endommagement 2. Caractérisation des isolants, microscopie à balayage. 3. Isolants et technologies. Mécanique, génie électrique, optique. Les isolants : physique de la localisation des porteurs de charge : applications aux phénomènes d'endommagement [texte imprimé] / Christiane Bonnelle, Auteur ; Guy Blaise, Auteur ; Claude Le Gressus, Auteur ; Daniel Tréheux, Auteur . - Paris : Tec & Doc : Paris : Hermes Science Publications, 2010 . - 340 p. : ill. ; 24 cm. ISBN : 978-2-7430-1229-8 Langues : Français (fre) Mots-clés : Isolants -- Détérioration Isolants -- Qualité Matériaux -- Détérioration Cristallographie -- Théorie quantique Milieux continus, Mécanique des -- Endommagement, Mécanique de l' (milieux continus) Index. décimale : 621.315.61 Matériaux isolants. Matériaux diélectriques Résumé : Les problèmes technologiques associés à la fabrication et à l’utilisation des matériaux isolants demeurent nombreux et sont souvent récurrents dans beaucoup de secteurs industriels. Cette situation reflète les insuffisances des théories de l’endommagement des isolants. Cet ouvrage propose un nouveau modèle d’endommagement des isolants et des mesures permettant d’en prévoir les comportements. Les phénomènes de claquage, de fracture et d’usure sont ensuite expliqués à travers ce modèle. Des applications à des problèmes technologiques variés sont présentées et plusieurs stratégies d’amélioration des matériaux y sont proposées. Les auteurs précisent les caractérisations à effectuer dans un microscope électronique à balayage pour évaluer la qualité des isolants. L’exposé de cette méthode comporte plusieurs développements originaux essentiels à la maîtrise technologique de ce type de matériaux. Les isolants constitue un mémento original destiné à servir de guide pratique aux ingénieurs et aux chefs de projet concernés par la maîtrise technologique des isolants. Il contribuera aussi à la formation d’étudiants et à la sensibilisation de chercheurs à des nouvelles approches fondamentales des isolants. Note de contenu : Au sommaire : 1. Perturbation du champ cristallin et endommagement 2. Caractérisation des isolants, microscopie à balayage. 3. Isolants et technologies. Mécanique, génie électrique, optique.

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055360	621.315.61 ISO	Papier	Bibliothèque Centrale	SC. Matériaux	Disponible	En bon état
055359	621.315.61 ISO	Papier	Bibliothèque Centrale	SC. Matériaux	Disponible	Consultation sur place