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Auteur Michel Froment |
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Titre : Surfaces Interfaces et films minces Type de document : texte imprimé Auteurs : Bernard Agius, Auteur ; Michel Froment, Auteur ; François Abel, Auteur ; Luc Beaunier, Auteur Editeur : Paris ; Malakoff : Dunod Année de publication : 1990 Importance : 469 p. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-04-018771-2 Note générale : Bibliogr. p. 453-467. Index Langues : Français (fre) Mots-clés : Spectroscopie électronique
Surfaces (technologie)
Transfert de masse -- Modèles mathématiques
Interfaces (sciences physiques)
Surfaces (physique) -- Propriétés optiques
Microscopie électronique -- Technique
Spectroscopie
Couches minces -- Analyse
Chimie des surfaces -- AnalyseIndex. décimale : 543.42 Analyse spectrale Résumé : Cet ouvrage présent les développements et applications des plus récentes méthodes répondant à cet impératif : microscopies et spectroscopies électroniques; microanalyses, ionique et nucléaire; rayons X spectroscopies optiques. Évaluant les possibilités de chaque méthode, il permet au lecteur de choisir la plus adaptée à son problème. Il destiné non seulement aux enseignant et étudiants des universités 2 et 3 cycles et des écoles d'ingénieurs, mais également aux ingénieurs, technicien et chercheurs concernés par les matériaux et leur mise en œuvre industrielle. Note de contenu : Au sommaire :
- Éléments de physique électronique des solides
- Microscopie électronique
- Spectroscopies d’électrons
- Faisceaux d'ions microanalyses ionique et nucléaire
- Interaction photons-surfaceSurfaces Interfaces et films minces [texte imprimé] / Bernard Agius, Auteur ; Michel Froment, Auteur ; François Abel, Auteur ; Luc Beaunier, Auteur . - Paris ; Malakoff : Dunod, 1990 . - 469 p. ; 25 cm.
ISBN : 978-2-04-018771-2
Bibliogr. p. 453-467. Index
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Spectroscopie électronique
Surfaces (technologie)
Transfert de masse -- Modèles mathématiques
Interfaces (sciences physiques)
Surfaces (physique) -- Propriétés optiques
Microscopie électronique -- Technique
Spectroscopie
Couches minces -- Analyse
Chimie des surfaces -- AnalyseIndex. décimale : 543.42 Analyse spectrale Résumé : Cet ouvrage présent les développements et applications des plus récentes méthodes répondant à cet impératif : microscopies et spectroscopies électroniques; microanalyses, ionique et nucléaire; rayons X spectroscopies optiques. Évaluant les possibilités de chaque méthode, il permet au lecteur de choisir la plus adaptée à son problème. Il destiné non seulement aux enseignant et étudiants des universités 2 et 3 cycles et des écoles d'ingénieurs, mais également aux ingénieurs, technicien et chercheurs concernés par les matériaux et leur mise en œuvre industrielle. Note de contenu : Au sommaire :
- Éléments de physique électronique des solides
- Microscopie électronique
- Spectroscopies d’électrons
- Faisceaux d'ions microanalyses ionique et nucléaire
- Interaction photons-surfaceRéservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 040990 543.42 SUR Papier Bibliothèque Centrale Chimie Disponible 040991 543.42 SUR Papier Bibliothèque Centrale Chimie Disponible