| Titre : |
Les isolants : physique de la localisation des porteurs de charge : applications aux phénomènes d'endommagement |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Christiane Bonnelle, Auteur ; Guy Blaise, Auteur ; Claude Le Gressus, Auteur ; Daniel Tréheux, Auteur |
| Editeur : |
Paris : Tec & Doc |
| Année de publication : |
2010 |
| Autre Editeur : |
Paris : Hermes Science Publications |
| Importance : |
340 p. |
| Présentation : |
ill. |
| Format : |
24 cm |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-2-7430-1229-8 |
| Langues : |
Français (fre) |
| Mots-clés : |
Isolants -- Détérioration
Isolants -- Qualité
Matériaux -- Détérioration
Cristallographie -- Théorie quantique
Milieux continus, Mécanique des -- Endommagement, Mécanique de l' (milieux continus) |
| Index. décimale : |
621.315.61 Matériaux isolants. Matériaux diélectriques |
| Résumé : |
Les problèmes technologiques associés à la fabrication et à l’utilisation des matériaux isolants demeurent nombreux et sont souvent récurrents dans beaucoup de secteurs industriels. Cette situation reflète les insuffisances des théories de l’endommagement des isolants. Cet ouvrage propose un nouveau modèle d’endommagement des isolants et des mesures permettant d’en prévoir les comportements. Les phénomènes de claquage, de fracture et d’usure sont ensuite expliqués à travers ce modèle. Des applications à des problèmes technologiques variés sont présentées et plusieurs stratégies d’amélioration des matériaux y sont proposées. Les auteurs précisent les caractérisations à effectuer dans un microscope électronique à balayage pour évaluer la qualité des isolants. L’exposé de cette méthode comporte plusieurs développements originaux essentiels à la maîtrise technologique de ce type de matériaux.
Les isolants constitue un mémento original destiné à servir de guide pratique aux ingénieurs et aux chefs de projet concernés par la maîtrise technologique des isolants. Il contribuera aussi à la formation d’étudiants et à la sensibilisation de chercheurs à des nouvelles approches fondamentales des isolants. |
| Note de contenu : |
Au sommaire :
1. Perturbation du champ cristallin et endommagement
2. Caractérisation des isolants, microscopie à balayage.
3. Isolants et technologies. Mécanique, génie électrique, optique. |
Les isolants : physique de la localisation des porteurs de charge : applications aux phénomènes d'endommagement [texte imprimé] / Christiane Bonnelle, Auteur ; Guy Blaise, Auteur ; Claude Le Gressus, Auteur ; Daniel Tréheux, Auteur . - Paris : Tec & Doc : Paris : Hermes Science Publications, 2010 . - 340 p. : ill. ; 24 cm. ISBN : 978-2-7430-1229-8 Langues : Français ( fre)
| Mots-clés : |
Isolants -- Détérioration
Isolants -- Qualité
Matériaux -- Détérioration
Cristallographie -- Théorie quantique
Milieux continus, Mécanique des -- Endommagement, Mécanique de l' (milieux continus) |
| Index. décimale : |
621.315.61 Matériaux isolants. Matériaux diélectriques |
| Résumé : |
Les problèmes technologiques associés à la fabrication et à l’utilisation des matériaux isolants demeurent nombreux et sont souvent récurrents dans beaucoup de secteurs industriels. Cette situation reflète les insuffisances des théories de l’endommagement des isolants. Cet ouvrage propose un nouveau modèle d’endommagement des isolants et des mesures permettant d’en prévoir les comportements. Les phénomènes de claquage, de fracture et d’usure sont ensuite expliqués à travers ce modèle. Des applications à des problèmes technologiques variés sont présentées et plusieurs stratégies d’amélioration des matériaux y sont proposées. Les auteurs précisent les caractérisations à effectuer dans un microscope électronique à balayage pour évaluer la qualité des isolants. L’exposé de cette méthode comporte plusieurs développements originaux essentiels à la maîtrise technologique de ce type de matériaux.
Les isolants constitue un mémento original destiné à servir de guide pratique aux ingénieurs et aux chefs de projet concernés par la maîtrise technologique des isolants. Il contribuera aussi à la formation d’étudiants et à la sensibilisation de chercheurs à des nouvelles approches fondamentales des isolants. |
| Note de contenu : |
Au sommaire :
1. Perturbation du champ cristallin et endommagement
2. Caractérisation des isolants, microscopie à balayage.
3. Isolants et technologies. Mécanique, génie électrique, optique. |
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