| Titre : |
Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Claude Esnouf, Auteur |
| Editeur : |
Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes |
| Année de publication : |
2011 |
| Collection : |
METIS Lyon Tech |
| Importance : |
XVI, 579 p. |
| Présentation : |
ill. |
| Format : |
24 cm |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-2-88074-884-5 |
| Note générale : |
Bibliogr.- Index |
| Langues : |
Français (fre) |
| Mots-clés : |
Microstructure (physique)
Rayons X
Cristallographie |
| Index. décimale : |
548.73 Analyse des cristaux par les rayons X.(Radiographie Röntgen). Recherche des propriétés des cristaux par les rayons X (Röntgenographie). Structure aux rayons X. |
| Résumé : |
Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural.
Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine. |
| Note de contenu : |
Au sommaire :
1. Éléments de cristallographie
2. Diffraction par les cristaux
3. Radiocristallographie X
4. Diffraction par les rayonnements corpusculaires
5. Imagerie électronique
6. Spectroscopies x et électronique
7. Réseaux et groupes à deux dimensions
8. Transformée de Fourier, produit de convolution et fonction de Patterson
9. Coefficient de Debye-Waller
10. Rappels sur la structure électronique d'un atome
... |
Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique [texte imprimé] / Claude Esnouf, Auteur . - Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes, 2011 . - XVI, 579 p. : ill. ; 24 cm. - ( METIS Lyon Tech) . ISBN : 978-2-88074-884-5 Bibliogr.- Index Langues : Français ( fre)
| Mots-clés : |
Microstructure (physique)
Rayons X
Cristallographie |
| Index. décimale : |
548.73 Analyse des cristaux par les rayons X.(Radiographie Röntgen). Recherche des propriétés des cristaux par les rayons X (Röntgenographie). Structure aux rayons X. |
| Résumé : |
Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural.
Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine. |
| Note de contenu : |
Au sommaire :
1. Éléments de cristallographie
2. Diffraction par les cristaux
3. Radiocristallographie X
4. Diffraction par les rayonnements corpusculaires
5. Imagerie électronique
6. Spectroscopies x et électronique
7. Réseaux et groupes à deux dimensions
8. Transformée de Fourier, produit de convolution et fonction de Patterson
9. Coefficient de Debye-Waller
10. Rappels sur la structure électronique d'un atome
... |
|  |
Ajouter le résultat dans votre panier Faire une suggestion Affiner la recherche
