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Auteur B.A. Unger
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Faire une suggestion Affiner la rechercheSemiconductor device reliability
Titre : Semiconductor device reliability Type de document : texte imprimé Auteurs : A. Christou, Editeur scientifique ; B.A. Unger, Editeur scientifique ; NATO Advanced Research Workshop, Editeur scientifique Editeur : Boston : Kluwer academic publishers Année de publication : 1990 Collection : NATO ASI series Sous-collection : Series E: Applied sciences num. Vol. 175 Importance : IX-575 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-7923-0536-1 Note générale : Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Semiconductor Device Reliability, Heraklio, Crete, Greece, June 4-9, 1989.
IndexLangues : Anglais (eng) Mots-clés : Composés semiconducteurs -- Actes de congrès
Fiabilité -- Actes de congrèsIndex. décimale : 621.382 Dispositifs électroniques utilisant les effets des corps solides. Dispositifs semi-conducteurs Résumé : This publication is a compilation of papers presented at the semiconductor device reliability workshop sponsored by the NATO international scientific exchange program. The workshop was held in Crete, Greece from June 4 to Juin 9, 1989. The objective of the workshop was to review and to further explore advances in the field of semiconductor reliability through invited paper presentations and discussions. The technical emphasis was on quality assurance and reliability of optoelectronic and high speed semiconductor devices. Note de contenu : Contents:
* Reliability Testing.
* Reliability Models and Failure Mechanisms.
* Failure Analysis.
* Opto-Electronic Reliability (I).
* Opto-Electronic Reliability (II).
* Compound Semiconductor Reliability.
* High-Speed Circuit Reliability.Semiconductor device reliability [texte imprimé] / A. Christou, Editeur scientifique ; B.A. Unger, Editeur scientifique ; NATO Advanced Research Workshop, Editeur scientifique . - Kluwer academic publishers, 1990 . - IX-575 p. : ill. ; 24 cm. - (NATO ASI series. Series E: Applied sciences; Vol. 175) .
ISBN : 978-0-7923-0536-1
Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Semiconductor Device Reliability, Heraklio, Crete, Greece, June 4-9, 1989.
Index
Langues : Anglais (eng)
Mots-clés : Composés semiconducteurs -- Actes de congrès
Fiabilité -- Actes de congrèsIndex. décimale : 621.382 Dispositifs électroniques utilisant les effets des corps solides. Dispositifs semi-conducteurs Résumé : This publication is a compilation of papers presented at the semiconductor device reliability workshop sponsored by the NATO international scientific exchange program. The workshop was held in Crete, Greece from June 4 to Juin 9, 1989. The objective of the workshop was to review and to further explore advances in the field of semiconductor reliability through invited paper presentations and discussions. The technical emphasis was on quality assurance and reliability of optoelectronic and high speed semiconductor devices. Note de contenu : Contents:
* Reliability Testing.
* Reliability Models and Failure Mechanisms.
* Failure Analysis.
* Opto-Electronic Reliability (I).
* Opto-Electronic Reliability (II).
* Compound Semiconductor Reliability.
* High-Speed Circuit Reliability.Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 041568 621.382 SEM Papier Bibliothèque Centrale Electronique Disponible En bon état
