Titre :	Surfaces Interfaces et films minces
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	Bernard Agius, Auteur ; Michel Froment, Auteur ; François Abel, Auteur ; Luc Beaunier, Auteur
Editeur :	Paris ; Malakoff : Dunod
Année de publication :	1990
Importance :	469 p.
Format :	25 cm
ISBN/ISSN/EAN :	978-2-04-018771-2
Note générale :	Bibliogr. p. 453-467. Index
Langues :	Français (fre)
Mots-clés :	Spectroscopie électronique Surfaces (technologie) Transfert de masse -- Modèles mathématiques Interfaces (sciences physiques) Surfaces (physique) -- Propriétés optiques Microscopie électronique -- Technique Spectroscopie Couches minces -- Analyse Chimie des surfaces -- Analyse
Index. décimale :	543.42 Analyse spectrale
Résumé :	Cet ouvrage présent les développements et applications des plus récentes méthodes répondant à cet impératif : microscopies et spectroscopies électroniques; microanalyses, ionique et nucléaire; rayons X spectroscopies optiques. Évaluant les possibilités de chaque méthode, il permet au lecteur de choisir la plus adaptée à son problème. Il destiné non seulement aux enseignant et étudiants des universités 2 et 3 cycles et des écoles d'ingénieurs, mais également aux ingénieurs, technicien et chercheurs concernés par les matériaux et leur mise en œuvre industrielle.
Note de contenu :	Au sommaire : - Éléments de physique électronique des solides - Microscopie électronique - Spectroscopies d’électrons - Faisceaux d'ions microanalyses ionique et nucléaire - Interaction photons-surface

Surfaces Interfaces et films minces [texte imprimé] / Bernard Agius, Auteur ; Michel Froment, Auteur ; François Abel, Auteur ; Luc Beaunier, Auteur . - Paris ; Malakoff : Dunod, 1990 . - 469 p. ; 25 cm.
ISBN : 978-2-04-018771-2
Bibliogr. p. 453-467. Index
Langues : Français (fre)

Mots-clés :	Spectroscopie électronique Surfaces (technologie) Transfert de masse -- Modèles mathématiques Interfaces (sciences physiques) Surfaces (physique) -- Propriétés optiques Microscopie électronique -- Technique Spectroscopie Couches minces -- Analyse Chimie des surfaces -- Analyse
Index. décimale :	543.42 Analyse spectrale
Résumé :	Cet ouvrage présent les développements et applications des plus récentes méthodes répondant à cet impératif : microscopies et spectroscopies électroniques; microanalyses, ionique et nucléaire; rayons X spectroscopies optiques. Évaluant les possibilités de chaque méthode, il permet au lecteur de choisir la plus adaptée à son problème. Il destiné non seulement aux enseignant et étudiants des universités 2 et 3 cycles et des écoles d'ingénieurs, mais également aux ingénieurs, technicien et chercheurs concernés par les matériaux et leur mise en œuvre industrielle.
Note de contenu :	Au sommaire : - Éléments de physique électronique des solides - Microscopie électronique - Spectroscopies d’électrons - Faisceaux d'ions microanalyses ionique et nucléaire - Interaction photons-surface