| Titre : | Analyse structurale et chimique des matériaux : diffraction des rayons x, électrons et neutrons spectrométrie des rayons x, électrons et ions Microscopie électronique |
| Auteurs : | Jean-Pierre Eberhart, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Paris ; Malakoff : Dunod, 1989 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-04-018797-2 |
| Format : | 614 p. / ill. / 25 cm. |
| Note générale : |
Bibliogr. p.597-603
index |
| Langues : | Français |
| Index. décimale : | 543.4 (Méthodes d'analyse spectrales.Méthodes d'analyses optiques.Méthodes basées sur la mesure de la diffraction de rayonnements ou de particules) |
| Tags : | Maté ; riaux -- Analyse. Surfaces (technologie -- Analyse |
| Résumé : | cet ouvrage présent de façon cohérente et synthétique la théorie et la pratique des techniques les plus importantes utilisant la diffraction des rayons x,des électrons et des neutrons la spectrométrie des rayons x,des électrons et des ions ainsi que les diverses techniques d'imagerie et de microscopie électronique les applications sont exposées dans un langage clair accessible des non-spécialistes de physique du solide |
| Note de contenu : |
au sommaire:
*Intraction rayonnements matiere *Techniques de production et de mesure des rayonnements *Applications de la diffra ction des rayonnements *Applications de la spectrometrie des rayons des electrons et des ions secondaires *Techniques de microscopie electronique |
Exemplaires (3)
| Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Etat_Exemplaire |
|---|---|---|---|---|---|
| 543.4 EBE | Papier | Bibliothèque Centrale | Chimie | Disponible | Consultation sur place |
| 543.4 EBE | Papier | Bibliothèque Centrale | Chimie | Disponible | En bon état |
| 543.4 EBE | Papier | Bibliothèque Centrale | Chimie | Disponible |
