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Méthodes physiques d'analyse de surface SIMS- AES- Esca / Agoudjil, Nouria

Public ISBD Titre : Méthodes physiques d'analyse de surface SIMS- AES- Esca : application à l'étude et au côntrole en traitements de surface Type de document : texte imprimé Auteurs : Agoudjil, Nouria, Auteur Editeur : Alger : OPU Année de publication : 1994 Collection : Le cours de chimie Importance : 204 p. Présentation : ill. Format : 27 cm Note générale : Bibliogr. p.[188]-204 Langues : Français (fre) Mots-clés : Chimie Spectroscopie Index. décimale : 543.42 Analyse spectrale Résumé : Ces techniques ont contribué à la compréhension de tout ce qui se rapporte aux phénomènes de surface et ou la surface joue un rôle important qui nécessite sa caractérisation. Parmi les nombreux domaines industriels concernés figurent en bonne place ceux intervenant: - En métallurgie (corrosion, traitement de surface revêtement, dépôt, couche mince, peinture...). - En chimie (catalyse, polymère, pollution). - En mécanique des surfaces (lubrification, adhérence, frottement, interface, biomécanique...). - En micro électronique (interface, contact, impureté, dopant...). Note de contenu : Au sommaire: * Analyse par émission ionique secondaire SIMS spectroscopie de masse d'ions secondaires. * Spectroscopie des électrons auger (A.E.S). * Spectroscopies de photoélectrons XPS ou ESCA et UPS. Méthodes physiques d'analyse de surface SIMS- AES- Esca : application à l'étude et au côntrole en traitements de surface [texte imprimé] / Agoudjil, Nouria, Auteur . - OPU, 1994 . - 204 p. : ill. ; 27 cm. - (Le cours de chimie) . Bibliogr. p.[188]-204 Langues : Français (fre) Mots-clés : Chimie Spectroscopie Index. décimale : 543.42 Analyse spectrale Résumé : Ces techniques ont contribué à la compréhension de tout ce qui se rapporte aux phénomènes de surface et ou la surface joue un rôle important qui nécessite sa caractérisation. Parmi les nombreux domaines industriels concernés figurent en bonne place ceux intervenant: - En métallurgie (corrosion, traitement de surface revêtement, dépôt, couche mince, peinture...). - En chimie (catalyse, polymère, pollution). - En mécanique des surfaces (lubrification, adhérence, frottement, interface, biomécanique...). - En micro électronique (interface, contact, impureté, dopant...). Note de contenu : Au sommaire: * Analyse par émission ionique secondaire SIMS spectroscopie de masse d'ions secondaires. * Spectroscopie des électrons auger (A.E.S). * Spectroscopies de photoélectrons XPS ou ESCA et UPS.

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité	Etat_Exemplaire
041336	543.42 AGO	Papier	Bibliothèque Centrale	Chimie	Disponible