| Titre : |
Méthodes physiques d'analyse de surface SIMS- AES- Esca : application à l'étude et au côntrole en traitements de surface |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Agoudjil, Nouria, Auteur |
| Editeur : |
Alger : Office des publications universitaires (OPU) |
| Année de publication : |
1994 |
| Collection : |
Le cours de chimie |
| Importance : |
204 p. |
| Présentation : |
ill. |
| Format : |
27 cm |
| Note générale : |
Bibliogr. p.[188]-204 |
| Langues : |
Français (fre) |
| Mots-clés : |
Chimie
Spectroscopie |
| Index. décimale : |
543.42 Analyse spectrale |
| Résumé : |
Ces techniques ont contribué à la compréhension de tout ce qui se rapporte aux phénomènes de surface et ou la surface joue un rôle important qui nécessite sa caractérisation. Parmi les nombreux domaines industriels concernés figurent en bonne place ceux intervenant:
- En métallurgie (corrosion, traitement de surface revêtement, dépôt, couche mince, peinture...).
- En chimie (catalyse, polymère, pollution).
- En mécanique des surfaces (lubrification, adhérence, frottement, interface, biomécanique...).
- En micro électronique (interface, contact, impureté, dopant...). |
| Note de contenu : |
Au sommaire:
* Analyse par émission ionique secondaire SIMS spectroscopie de masse d'ions secondaires.
* Spectroscopie des électrons auger (A.E.S).
* Spectroscopies de photoélectrons XPS ou ESCA et UPS. |
Méthodes physiques d'analyse de surface SIMS- AES- Esca : application à l'étude et au côntrole en traitements de surface [texte imprimé] / Agoudjil, Nouria, Auteur . - Alger : Office des publications universitaires (OPU), 1994 . - 204 p. : ill. ; 27 cm. - ( Le cours de chimie) . Bibliogr. p.[188]-204 Langues : Français ( fre)
| Mots-clés : |
Chimie
Spectroscopie |
| Index. décimale : |
543.42 Analyse spectrale |
| Résumé : |
Ces techniques ont contribué à la compréhension de tout ce qui se rapporte aux phénomènes de surface et ou la surface joue un rôle important qui nécessite sa caractérisation. Parmi les nombreux domaines industriels concernés figurent en bonne place ceux intervenant:
- En métallurgie (corrosion, traitement de surface revêtement, dépôt, couche mince, peinture...).
- En chimie (catalyse, polymère, pollution).
- En mécanique des surfaces (lubrification, adhérence, frottement, interface, biomécanique...).
- En micro électronique (interface, contact, impureté, dopant...). |
| Note de contenu : |
Au sommaire:
* Analyse par émission ionique secondaire SIMS spectroscopie de masse d'ions secondaires.
* Spectroscopie des électrons auger (A.E.S).
* Spectroscopies de photoélectrons XPS ou ESCA et UPS. |
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