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Analyse structurale et chimique des matériaux : diffraction des rayons x, électrons et neutrons spectrométrie des rayons x, électrons et ions Microscopie électronique

Jean-Pierre Eberhart, Auteur | Paris ; Malakoff : Dunod | 1989

cet ouvrage présent de façon cohérente et synthétique la théorie et la pratique des techniques les plus importantes utilisant la diffraction des rayons x,des électrons et des neutrons la spectrométrie des rayons x,des électrons et des ions ainsi[...]

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Méthodes physiques d'étude des minéraux et des matériaux solides : diffraction des rayons X, des électrons, des neutrons, microscopie électronique à transmission, à balayage, spectrométrie des rayons X, des électrons, des ions

Jean-Pierre Eberhart, Auteur | Paris : Doin | 1976

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