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Auteur Jean-Pierre Eberhart |
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Titre : Analyse structurale et chimique des matériaux : diffraction des rayons x, électrons et neutrons spectrométrie des rayons x, électrons et ions Microscopie électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Pierre Eberhart, Auteur Editeur : Paris ; Malakoff : Dunod Année de publication : 1989 Importance : 614 p. Présentation : ill. Format : 25 cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-04-018797-2 Note générale : Bibliogr. p.597-603
index
Langues : Français (fre) Mots-clés : Maté riaux -- Analyse.
Surfaces (technologie -- AnalyseIndex. décimale : 543.4 Méthodes d'analyse spectrales.Méthodes d'analyses optiques.Méthodes basées sur la mesure de la diffraction de rayonnements ou de particules Résumé : cet ouvrage présent de façon cohérente et synthétique la théorie et la pratique des techniques les plus importantes utilisant la diffraction des rayons x,des électrons et des neutrons la spectrométrie des rayons x,des électrons et des ions ainsi que les diverses techniques d'imagerie et de microscopie électronique les applications sont exposées dans un langage clair accessible des non-spécialistes de physique du solide Note de contenu : au sommaire:
*Intraction rayonnements matiere
*Techniques de production et de mesure des rayonnements
*Applications de la diffra ction des rayonnements
*Applications de la spectrometrie des rayons des electrons et des ions secondaires
*Techniques de microscopie electroniqueAnalyse structurale et chimique des matériaux : diffraction des rayons x, électrons et neutrons spectrométrie des rayons x, électrons et ions Microscopie électronique [texte imprimé] / Jean-Pierre Eberhart, Auteur . - Paris ; Malakoff : Dunod, 1989 . - 614 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN : 978-2-04-018797-2
Bibliogr. p.597-603
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Langues : Français (fre)
Mots-clés : Maté riaux -- Analyse.
Surfaces (technologie -- AnalyseIndex. décimale : 543.4 Méthodes d'analyse spectrales.Méthodes d'analyses optiques.Méthodes basées sur la mesure de la diffraction de rayonnements ou de particules Résumé : cet ouvrage présent de façon cohérente et synthétique la théorie et la pratique des techniques les plus importantes utilisant la diffraction des rayons x,des électrons et des neutrons la spectrométrie des rayons x,des électrons et des ions ainsi que les diverses techniques d'imagerie et de microscopie électronique les applications sont exposées dans un langage clair accessible des non-spécialistes de physique du solide Note de contenu : au sommaire:
*Intraction rayonnements matiere
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*Techniques de microscopie electroniqueRéservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 039626 543.4 EBE Papier Bibliothèque Centrale Chimie Disponible Consultation sur place 039627 543.4 EBE Papier Bibliothèque Centrale Chimie Disponible En bon état 039628 543.4 EBE Papier Bibliothèque Centrale Chimie Disponible
Titre : Méthodes physiques d'étude des minéraux et des matériaux solides : diffraction des rayons X, des électrons, des neutrons, microscopie électronique à transmission, à balayage, spectrométrie des rayons X, des électrons, des ions Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Pierre Eberhart, Auteur Editeur : Paris : Doin Année de publication : 1976 Importance : XIII-507 p. Présentation : ill. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7040-0066-1 Note générale : Bibliogr. p. [491]-499. Index Langues : Français (fre) Mots-clés : Structure cristalline (solides)
Minéraux constitutifs des roches -- Identification
Minéralogie optique
Spectroscopie
Solides -- Spectres
Optical mineralogy
Spectrum analysis
Solids -- Spectra
Mineralogy, DeterminativeIndex. décimale : 549 (035) Minéralogie. Étude particulière des minéraux. (Handbook) Note de contenu : Au sommaire:
1. Interaction des rayonnements avec la matière aspect théorique
2. Production et mesure des rayonnements
3. Application de l'interaction des rayonnements à l'étude des matériaux cristallisés: méthodes diffractométriquesMéthodes physiques d'étude des minéraux et des matériaux solides : diffraction des rayons X, des électrons, des neutrons, microscopie électronique à transmission, à balayage, spectrométrie des rayons X, des électrons, des ions [texte imprimé] / Jean-Pierre Eberhart, Auteur . - Paris : Doin, 1976 . - XIII-507 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN : 978-2-7040-0066-1
Bibliogr. p. [491]-499. Index
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Structure cristalline (solides)
Minéraux constitutifs des roches -- Identification
Minéralogie optique
Spectroscopie
Solides -- Spectres
Optical mineralogy
Spectrum analysis
Solids -- Spectra
Mineralogy, DeterminativeIndex. décimale : 549 (035) Minéralogie. Étude particulière des minéraux. (Handbook) Note de contenu : Au sommaire:
1. Interaction des rayonnements avec la matière aspect théorique
2. Production et mesure des rayonnements
3. Application de l'interaction des rayonnements à l'étude des matériaux cristallisés: méthodes diffractométriquesRéservation
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