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Cours de l'école de microscopie électronique en science des matériaux / Ecole d'été du microscopie électronique en sciences des matériaux (21 septembre-3 octobre 1981; Bombannes) (1983)
Titre : Cours de l'école de microscopie électronique en science des matériaux Type de document : texte imprimé Auteurs : Ecole d'été du microscopie électronique en sciences des matériaux (21 septembre-3 octobre 1981; Bombannes), Auteur ; Bernard Jouffrey, Éditeur scientifique ; Alain Bourret, Éditeur scientifique ; Christian Collieu, Éditeur scientifique Editeur : Paris : Centre national de la recherche scientifique Année de publication : 1983 Importance : XVI-617 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-222-03232-8 Note générale : Textes en français et en anglais. Notes bibliogr. Index
Langues : Français (fre) Mots-clés : Matériaux -- Microscopie -- Actes de congrès
Materials
Electron microscopy
Microscopie électronique -- Actes de congrès
Science des matériaux -- Actes de congrèsIndex. décimale : 621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. Résumé :
Ce livre insiste sur les principes de base des théories nécessaires à la compréhension de certains développements souvent récents de la microscopie conventionnelle ou à balayage, à basse ou haute tensions, dans l'étude des échantillons ou de leurs surfaces. Cet ouvrage essais également de montrer l’intérêt de la minéralogie, les semiconducteurs, les joints de grain, les amorphes, les catalyseurs...Note de contenu : Au sommaire :
- Canons a électrons et illumination de l'échantillon
- Lentilles électroniques
- Les systèmes dispersifs en microscopie électronique
- Détection d'électrons en microscopie électronique
- La formation de l'image en microscopie électronique
- Possibilités et réalisations en holographie électronique
- Su quelques aspects des collisions électron-Atome cas élastique et inélastique
- Beam damage contamination and etching
- Diffraction des électrons de haute énergie
...Cours de l'école de microscopie électronique en science des matériaux [texte imprimé] / Ecole d'été du microscopie électronique en sciences des matériaux (21 septembre-3 octobre 1981; Bombannes), Auteur ; Bernard Jouffrey, Éditeur scientifique ; Alain Bourret, Éditeur scientifique ; Christian Collieu, Éditeur scientifique . - Paris : Centre national de la recherche scientifique, 1983 . - XVI-617 p. : ill. ; 24 cm.
ISBN : 978-2-222-03232-8
Textes en français et en anglais. Notes bibliogr. Index
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Matériaux -- Microscopie -- Actes de congrès
Materials
Electron microscopy
Microscopie électronique -- Actes de congrès
Science des matériaux -- Actes de congrèsIndex. décimale : 621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. Résumé :
Ce livre insiste sur les principes de base des théories nécessaires à la compréhension de certains développements souvent récents de la microscopie conventionnelle ou à balayage, à basse ou haute tensions, dans l'étude des échantillons ou de leurs surfaces. Cet ouvrage essais également de montrer l’intérêt de la minéralogie, les semiconducteurs, les joints de grain, les amorphes, les catalyseurs...Note de contenu : Au sommaire :
- Canons a électrons et illumination de l'échantillon
- Lentilles électroniques
- Les systèmes dispersifs en microscopie électronique
- Détection d'électrons en microscopie électronique
- La formation de l'image en microscopie électronique
- Possibilités et réalisations en holographie électronique
- Su quelques aspects des collisions électron-Atome cas élastique et inélastique
- Beam damage contamination and etching
- Diffraction des électrons de haute énergie
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 026048 621.385.833 ECO Papier Bibliothèque Centrale Electronique Disponible En bon état 026049 621.385.833 ECO Papier Bibliothèque Centrale Electronique Disponible En bon état 026050 621.385.833 ECO Papier Bibliothèque Centrale Electronique Disponible En bon état 026051 621.385.833 ECO Papier Bibliothèque Centrale Electronique Disponible En bon état 026052 621.385.833 ECO Papier Bibliothèque Centrale Electronique Disponible En bon état Industrial applications of electron microscopy (2003)
Titre : Industrial applications of electron microscopy Type de document : texte imprimé Auteurs : Zhigang R. Li, Éditeur scientifique Editeur : New York : Marcel Dekker Année de publication : 2003 Importance : XIV-625 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-8247-0828-3 Note générale : Bibliogr. P. 611-614. Index Langues : Anglais (eng) Mots-clés : Materials -- Microscopy
Electron microscopy -- Industrial applications
AnwendungIndex. décimale : 621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. Résumé : Providing proven strategies for solutions to research, development, and production dilemmas, this reference details the instrumentation and underlying principles for utilization of electron microscopy in the manufacturing, automotive, semiconductor, photographic film, pharmaceutical, chemical, mineral, forensic, glass, and pulp and paper industries. The book covers safety, calibration, and troubleshooting techniques, as well as methods in sample preparation and image collection, interpretation, and analysis. It includes contributions from microscopy experts based at major corporations and scientists from universities and major research centers. Note de contenu :
* Industrial sectors.
- Automotive applications of scanning and transmission electron microscopy.
- Electron microscopy for the pulp and paper industry.
- Applications of electron microscopy in photographic science and technology.
...
* Industrially important materials.
- Electron microscopy on pigments.
- Polymer characterization of CVD diamond defects by UHREM.
...Industrial applications of electron microscopy [texte imprimé] / Zhigang R. Li, Éditeur scientifique . - New York : Marcel Dekker, 2003 . - XIV-625 p. : ill. ; 24 cm.
ISBN : 978-0-8247-0828-3
Bibliogr. P. 611-614. Index
Langues : Anglais (eng)
Mots-clés : Materials -- Microscopy
Electron microscopy -- Industrial applications
AnwendungIndex. décimale : 621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. Résumé : Providing proven strategies for solutions to research, development, and production dilemmas, this reference details the instrumentation and underlying principles for utilization of electron microscopy in the manufacturing, automotive, semiconductor, photographic film, pharmaceutical, chemical, mineral, forensic, glass, and pulp and paper industries. The book covers safety, calibration, and troubleshooting techniques, as well as methods in sample preparation and image collection, interpretation, and analysis. It includes contributions from microscopy experts based at major corporations and scientists from universities and major research centers. Note de contenu :
* Industrial sectors.
- Automotive applications of scanning and transmission electron microscopy.
- Electron microscopy for the pulp and paper industry.
- Applications of electron microscopy in photographic science and technology.
...
* Industrially important materials.
- Electron microscopy on pigments.
- Polymer characterization of CVD diamond defects by UHREM.
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 049711 621.385.833 IND Papier Bibliothèque Centrale Electronique Disponible En bon état Microanalyse et microscopie électronique à balayage / École d'été sur la microanalyse et la microscopie électronique à balayage (11-16 Septembre 1978; St-Martin-d'Hères) (1981)
Titre : Microanalyse et microscopie électronique à balayage Type de document : texte imprimé Auteurs : École d'été sur la microanalyse et la microscopie électronique à balayage (11-16 Septembre 1978; St-Martin-d'Hères), Auteur ; F. Maurice, Éditeur scientifique ; L. Meny, Éditeur scientifique ; R. Tixier, Éditeur scientifique Editeur : Les Ulis : Éditions de physique Année de publication : 1981 Importance : XXX-534 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-902731-03-9 Note générale : Notes bibliogr. Glossaire Langues : Français (fre) Mots-clés : Microanalyse par émission X -- Actes de congrès
Spectroscopie des rayons X -- Actes de congrès
Microanalyse par sonde électronique -- Congrès comme sujet
Microscopie électronique à balayage -- Congrès comme sujet
Microchimie
Matériaux -- Analyse
Microstructure (physique)
Surfaces (technologie) -- Analyse
Microscopie électronique à balayage -- Actes de congrès
Analyse qualitative (chimie) -- Actes de congrès
Microprobe analysis -- Congresses
Scanning electron microscopy -- CongressesIndex. décimale : 621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. Résumé : Ce livre réunit les cours de l'école d'été de microanalyse et de microscopie électronique à balayage qui a eu lieu du 11 au 16 septembre 1978, à Saint Martin-d'Hères, grâce à l'hospitalité du laboratoire de thermodynamique et de physico-chimie métallurgiques de l'école nationale supérieure d'électrochimie et d'électrométallurgie de Grenoble. Note de contenu : Au sommaire:
* Cours généraux
- Optique électronique
- Emissions électroniques et contrastes
- Interactions électrons-matière
...
* Cours relatifs à diverses disciplines
- Echantillons biologiques: préparation et analyse
- Echantillons géologiques, verres et céramiques: préparation et analyse
...Microanalyse et microscopie électronique à balayage [texte imprimé] / École d'été sur la microanalyse et la microscopie électronique à balayage (11-16 Septembre 1978; St-Martin-d'Hères), Auteur ; F. Maurice, Éditeur scientifique ; L. Meny, Éditeur scientifique ; R. Tixier, Éditeur scientifique . - Les Ulis : Éditions de physique, 1981 . - XXX-534 p. : ill. ; 24 cm.
ISBN : 978-2-902731-03-9
Notes bibliogr. Glossaire
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Microanalyse par émission X -- Actes de congrès
Spectroscopie des rayons X -- Actes de congrès
Microanalyse par sonde électronique -- Congrès comme sujet
Microscopie électronique à balayage -- Congrès comme sujet
Microchimie
Matériaux -- Analyse
Microstructure (physique)
Surfaces (technologie) -- Analyse
Microscopie électronique à balayage -- Actes de congrès
Analyse qualitative (chimie) -- Actes de congrès
Microprobe analysis -- Congresses
Scanning electron microscopy -- CongressesIndex. décimale : 621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. Résumé : Ce livre réunit les cours de l'école d'été de microanalyse et de microscopie électronique à balayage qui a eu lieu du 11 au 16 septembre 1978, à Saint Martin-d'Hères, grâce à l'hospitalité du laboratoire de thermodynamique et de physico-chimie métallurgiques de l'école nationale supérieure d'électrochimie et d'électrométallurgie de Grenoble. Note de contenu : Au sommaire:
* Cours généraux
- Optique électronique
- Emissions électroniques et contrastes
- Interactions électrons-matière
...
* Cours relatifs à diverses disciplines
- Echantillons biologiques: préparation et analyse
- Echantillons géologiques, verres et céramiques: préparation et analyse
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 028641 621.385.833 ECO Papier Bibliothèque Centrale Electronique Disponible En bon état Microelectronique avancée. Tome 1 / Colloque international sur la microélectronique avancée (6-10 avril 1970; Paris) (1970)
Titre : Microelectronique avancée. Tome 1 Type de document : texte imprimé Auteurs : Union des associations techniques internationales, Éditeur scientifique ; Société française des électroniciens et radioélectriciens, Éditeur scientifique Congrès : Colloque international sur la microélectronique avancée (6-10 avril 1970; Paris), Auteur Editeur : Paris : Chiron Année de publication : 1970 Importance : 605 p. Présentation : ill. Format : 25 cm Note générale : Notes bibliogr. -Index Langues : Français (fre) Mots-clés : Microélectronique -- Actes de congrès Index. décimale : 621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. Note de contenu : Au sommaire :
1. Isolants de grande qualité pour les applications en microélectronique.
2. Possibilités d'avenir de la technologie silicium sur isolant pour mémoires mortes rapides.
3. Dispositifs électroluminescents intégrés.
4. Limites de la technologie mis complémentaires.
5. Le dopage par implantation ionique appliqué à la réalisation de dispositifs a semi-conducteurs.
6. Application de l’implantation ionique à la fabrication de circuits intégrés.
7. Couches semi-conductrices produites dans un diamant dope par implantation ionique.
8. Technologie et caractéristiques d'un transistor MOS réalisé par implantation ionique.
...Microelectronique avancée. Tome 1 [texte imprimé] / Union des associations techniques internationales, Éditeur scientifique ; Société française des électroniciens et radioélectriciens, Éditeur scientifique / Colloque international sur la microélectronique avancée (6-10 avril 1970; Paris), Auteur . - Paris : Chiron, 1970 . - 605 p. : ill. ; 25 cm.
Notes bibliogr. -Index
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Microélectronique -- Actes de congrès Index. décimale : 621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. Note de contenu : Au sommaire :
1. Isolants de grande qualité pour les applications en microélectronique.
2. Possibilités d'avenir de la technologie silicium sur isolant pour mémoires mortes rapides.
3. Dispositifs électroluminescents intégrés.
4. Limites de la technologie mis complémentaires.
5. Le dopage par implantation ionique appliqué à la réalisation de dispositifs a semi-conducteurs.
6. Application de l’implantation ionique à la fabrication de circuits intégrés.
7. Couches semi-conductrices produites dans un diamant dope par implantation ionique.
8. Technologie et caractéristiques d'un transistor MOS réalisé par implantation ionique.
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 013449 621.385.833 COL Papier Bibliothèque Centrale Electronique Disponible Consultation sur place Microelectronique avancée. Tome 2 / Colloque international sur la microélectronique avancée (6-10 avril 1970; Paris) (1970)
Titre : Microelectronique avancée. Tome 2 Type de document : texte imprimé Auteurs : Union des associations techniques internationales, Éditeur scientifique ; Société française des électroniciens et radioélectriciens, Éditeur scientifique Congrès : Colloque international sur la microélectronique avancée (6-10 avril 1970; Paris), Auteur Editeur : Paris : Chiron Année de publication : 1970 Importance : P. 616-1261 Présentation : ill. Format : 25 cm Note générale : Index Langues : Français (fre) Mots-clés : Microélectronique -- Actes de congrès Index. décimale : 621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. Note de contenu : Au sommaire :
1. Applications des techniques électroniques et ioniques à la réduction de dimension de composants semi-conducteurs.
2. Projection d'une image électronique pour l'exposition du dessin de circuits intégrés.
3. Le masquage électronique et l'implantation ionique, procédés et résultats.
4. Appareillage et production de circuits de très petite dimension.
5. Découvertes dans les technologies standard pour la fabrication de composants au silicium d'avant-garde.
6. Résultats récents obtenus dans le domaine des circuits monolithiques.
7. La diffusion anormale de la base dans les transistors.
8. Propriétés physiques, optiques et électroniques de couches monomoléculaires organiques.
...Microelectronique avancée. Tome 2 [texte imprimé] / Union des associations techniques internationales, Éditeur scientifique ; Société française des électroniciens et radioélectriciens, Éditeur scientifique / Colloque international sur la microélectronique avancée (6-10 avril 1970; Paris), Auteur . - Paris : Chiron, 1970 . - P. 616-1261 : ill. ; 25 cm.
Index
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Microélectronique -- Actes de congrès Index. décimale : 621.385.833 Microscope électronique. Caméras de diffraction. Note de contenu : Au sommaire :
1. Applications des techniques électroniques et ioniques à la réduction de dimension de composants semi-conducteurs.
2. Projection d'une image électronique pour l'exposition du dessin de circuits intégrés.
3. Le masquage électronique et l'implantation ionique, procédés et résultats.
4. Appareillage et production de circuits de très petite dimension.
5. Découvertes dans les technologies standard pour la fabrication de composants au silicium d'avant-garde.
6. Résultats récents obtenus dans le domaine des circuits monolithiques.
7. La diffusion anormale de la base dans les transistors.
8. Propriétés physiques, optiques et électroniques de couches monomoléculaires organiques.
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