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548.73 : Analyse des cristaux par les rayons X.(Radiographie Röntgen). Recherche des propriétés des cristaux par les rayons X (Röntgenographie). Structure aux rayons X.
548 Cristallographie. 548.0 Cristallographie générale. 548.0:33 548.0:53 Physique des cristaux 548.1 Cristallographie mathématique. Théorie continue des cristaux 548.12 Théorie de la symétrie.Théorie des formes originelles en général 548.2 Maclage de cristaux et agrégats cristallins 548.3 Chimie des cristaux. Propriétés chimico-morphologiques des cristaux. 548.4 Irrégularité dans les cristaux. Inclusions. Anomalies. Distorsions 548.5 Formation, croissance et dissolution de cristaux 548.51 Nucléation. Développement initial. Germes cristallins 548.53 Recristallisation. Succession. Récurrence 548.54 Aspect extérieur et présentation des cristaux 548.7 Structure fine des cristaux. Théorie discontinue des cristaux.Ouvrages de la bibliothèque en indexation 548.73
Faire une suggestion Affiner la rechercheCaractérisation microstructurale des matériaux / Claude Esnouf
Titre : Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Claude Esnouf, Auteur Editeur : Lausanne : PPUR Année de publication : 2011 Collection : METIS Lyon Tech Importance : XVI, 579 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-88074-884-5 Note générale : Bibliogr.- Index Langues : Français (fre) Mots-clés : Microstructure (physique)
Rayons X
CristallographieIndex. décimale : 548.73 Analyse des cristaux par les rayons X.(Radiographie Röntgen). Recherche des propriétés des cristaux par les rayons X (Röntgenographie). Structure aux rayons X. Résumé : Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural.
Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.Note de contenu : Au sommaire :
1. Éléments de cristallographie
2. Diffraction par les cristaux
3. Radiocristallographie X
4. Diffraction par les rayonnements corpusculaires
5. Imagerie électronique
6. Spectroscopies x et électronique
7. Réseaux et groupes à deux dimensions
8. Transformée de Fourier, produit de convolution et fonction de Patterson
9. Coefficient de Debye-Waller
10. Rappels sur la structure électronique d'un atome
...Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique [texte imprimé] / Claude Esnouf, Auteur . - PPUR, 2011 . - XVI, 579 p. : ill. ; 24 cm. - (METIS Lyon Tech) .
ISBN : 978-2-88074-884-5
Bibliogr.- Index
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Microstructure (physique)
Rayons X
CristallographieIndex. décimale : 548.73 Analyse des cristaux par les rayons X.(Radiographie Röntgen). Recherche des propriétés des cristaux par les rayons X (Röntgenographie). Structure aux rayons X. Résumé : Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural.
Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.Note de contenu : Au sommaire :
1. Éléments de cristallographie
2. Diffraction par les cristaux
3. Radiocristallographie X
4. Diffraction par les rayonnements corpusculaires
5. Imagerie électronique
6. Spectroscopies x et électronique
7. Réseaux et groupes à deux dimensions
8. Transformée de Fourier, produit de convolution et fonction de Patterson
9. Coefficient de Debye-Waller
10. Rappels sur la structure électronique d'un atome
...Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 054044 548.73 ESN Papier Bibliothèque Centrale Physique Disponible Consultation sur place 054116 548.73 ESN Papier Bibliothèque Centrale Physique Disponible En bon état
Titre : La cristallographie aux rayons X Type de document : texte imprimé Auteurs : William Clegg, Auteur ; Julien Robert-Paganin, Traducteur Editeur : Ulis [France] : EDP Sciences Année de publication : 2018 Collection : Enseignement sup chimie Importance : VI,125 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7598-2110-5 Note générale : Trad. de : X-ray crystallography. - Bibliogr. p. 123. - Glossaire. - Index Langues : Français (fre) Langues originales : Anglais (eng) Mots-clés : Radiocristallographie
Rayons X -- DiffractionIndex. décimale : 548.73 Analyse des cristaux par les rayons X.(Radiographie Röntgen). Recherche des propriétés des cristaux par les rayons X (Röntgenographie). Structure aux rayons X. Résumé :
Ce livre a pour objectif d'apporter une initiation à la technique de résolution de structure par cristallographie aux rayons X aux étudiants en chimie. Il n'a pas été conçu comme un manuel pratique pour les chercheurs du domaine. L'approche choisie est d'introduire les principes et les concepts fondamentaux, de montrer comment ils sont utilisés en pratique, et ensuite d'illustrer avec des cas concrets dans des études. Quelques sujets relatifs à la cristallographie sont discutés dans le dernier chapitre.
« ... une initiation à la technique de résolution de structure par cristallographie aux rayons X »Note de contenu : Au sommaire :
1. Aspects fondamentaux de cristallographie aux rayons X.
2. La cristallographie aux rayons X en pratique.
3. Etudes de cas de cristallographie aux rayons X.
4. Sujets associés.La cristallographie aux rayons X [texte imprimé] / William Clegg, Auteur ; Julien Robert-Paganin, Traducteur . - EDP Sciences, 2018 . - VI,125 p. : ill. ; 24 cm. - (Enseignement sup chimie) .
ISBN : 978-2-7598-2110-5
Trad. de : X-ray crystallography. - Bibliogr. p. 123. - Glossaire. - Index
Langues : Français (fre) Langues originales : Anglais (eng)
Mots-clés : Radiocristallographie
Rayons X -- DiffractionIndex. décimale : 548.73 Analyse des cristaux par les rayons X.(Radiographie Röntgen). Recherche des propriétés des cristaux par les rayons X (Röntgenographie). Structure aux rayons X. Résumé :
Ce livre a pour objectif d'apporter une initiation à la technique de résolution de structure par cristallographie aux rayons X aux étudiants en chimie. Il n'a pas été conçu comme un manuel pratique pour les chercheurs du domaine. L'approche choisie est d'introduire les principes et les concepts fondamentaux, de montrer comment ils sont utilisés en pratique, et ensuite d'illustrer avec des cas concrets dans des études. Quelques sujets relatifs à la cristallographie sont discutés dans le dernier chapitre.
« ... une initiation à la technique de résolution de structure par cristallographie aux rayons X »Note de contenu : Au sommaire :
1. Aspects fondamentaux de cristallographie aux rayons X.
2. La cristallographie aux rayons X en pratique.
3. Etudes de cas de cristallographie aux rayons X.
4. Sujets associés.Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 057948 548.73 CLE Papier Bibliothèque Centrale Chimie Disponible Consultation sur place
Titre : Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins : instrumentation et étude de la microstructure Type de document : texte imprimé Auteurs : René Guinebretière, Auteur Mention d'édition : 2e éd. revue et augm. Editeur : Paris : Hermès Science Année de publication : 2006 Autre Editeur : Paris : Lavoisier Importance : 361 p Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 2-7462-1238-2 Note générale : Bibliogr. p. 331-358. Index Langues : Français (fre) Mots-clés : 'Rayons X' 'Diffraction''Radiocristallographie'
'Polycristaux'Index. décimale : 548.73 Analyse des cristaux par les rayons X.(Radiographie Röntgen). Recherche des propriétés des cristaux par les rayons X (Röntgenographie). Structure aux rayons X. Résumé : Cet ouvrage est la deuxième édition d'une présentation détaillée du phénomène de diffraction des rayons X par des échantillons polycristallins et de la plupart de ses applications en science des matériaux. Après une introduction historique décrivant les étapes de la découverte de la diffraction des rayons X depuis la découverte des rayons X eux-mêmes, l'ouvrage présente, dans sa première partie, la théorie cinématique de la diffraction des rayons X, les instruments de mesure utilisés en diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins, puis les méthodes modernes de traitement des diagrammes réalisés, et enfin, les principales applications conventionnelles de la diffraction sur échantillons polycristallins. Dans sa deuxième partie, ce livre traite de l'étude quantitative par diffraction des rayons X de la microstructure des matériaux nanostructurés. Il analyse les fondements théoriques de ce type d'étude, la caractérisation des matériaux polycristallins d'orientation aléatoire et enfin, l'étude des couches minces épitaxiées. Note de contenu : Table des matières
ELEMENTS THEORIQUES DE BASE, INSTRUMENTATION ET EXPLOITATION USUELLE DES REULTATS
Théorie cinématique et géométrique de la diffraction des rayons X
Instrumentations en diffraction des rayons X
Traitements des données, extraction de l'information
Exploitation des résultats
ANALYSE MICROSTRUCTURALE
Diffusion et diffraction par des cristaux contenant des défauts
Etude microstructurale d'échantillons polycristallins d'orientation aléatoire
Etude microstructurale de couches minces
ISBN 13 : 978-2746212381 Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins : instrumentation et étude de la microstructure [texte imprimé] / René Guinebretière, Auteur . - 2e éd. revue et augm. . - Paris : Hermès Science : Paris : Lavoisier, 2006 . - 361 p : ill. ; 24 cm.
ISBN : 2-7462-1238-2
Bibliogr. p. 331-358. Index
Langues : Français (fre)
Mots-clés : 'Rayons X' 'Diffraction''Radiocristallographie'
'Polycristaux'Index. décimale : 548.73 Analyse des cristaux par les rayons X.(Radiographie Röntgen). Recherche des propriétés des cristaux par les rayons X (Röntgenographie). Structure aux rayons X. Résumé : Cet ouvrage est la deuxième édition d'une présentation détaillée du phénomène de diffraction des rayons X par des échantillons polycristallins et de la plupart de ses applications en science des matériaux. Après une introduction historique décrivant les étapes de la découverte de la diffraction des rayons X depuis la découverte des rayons X eux-mêmes, l'ouvrage présente, dans sa première partie, la théorie cinématique de la diffraction des rayons X, les instruments de mesure utilisés en diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins, puis les méthodes modernes de traitement des diagrammes réalisés, et enfin, les principales applications conventionnelles de la diffraction sur échantillons polycristallins. Dans sa deuxième partie, ce livre traite de l'étude quantitative par diffraction des rayons X de la microstructure des matériaux nanostructurés. Il analyse les fondements théoriques de ce type d'étude, la caractérisation des matériaux polycristallins d'orientation aléatoire et enfin, l'étude des couches minces épitaxiées. Note de contenu : Table des matières
ELEMENTS THEORIQUES DE BASE, INSTRUMENTATION ET EXPLOITATION USUELLE DES REULTATS
Théorie cinématique et géométrique de la diffraction des rayons X
Instrumentations en diffraction des rayons X
Traitements des données, extraction de l'information
Exploitation des résultats
ANALYSE MICROSTRUCTURALE
Diffusion et diffraction par des cristaux contenant des défauts
Etude microstructurale d'échantillons polycristallins d'orientation aléatoire
Etude microstructurale de couches minces
ISBN 13 : 978-2746212381 Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 050853 548.73 GUI Papier Bibliothèque Centrale Chimie Disponible En bon état 050854 548.73 GUI Papier Bibliothèque Centrale Chimie Disponible En bon état
Titre : Vector space : and its application in crystal-structure investigation Type de document : texte imprimé Auteurs : Martin Julian Buerger, Auteur Editeur : New York : Wiley Année de publication : 1959 Importance : 347 p. Présentation : ill. Format : 24 cm Note générale : Notes bibliogr. -Index Langues : Anglais (eng) Mots-clés : Vector spaces
Crystallography, Mathematical
Espaces vectoriels
Cristallographie mathématiqueIndex. décimale : 548.73 Analyse des cristaux par les rayons X.(Radiographie Röntgen). Recherche des propriétés des cristaux par les rayons X (Röntgenographie). Structure aux rayons X. Note de contenu : In summary :
1. The pahse problem of x-ray erystallography.
2. The patterson function.
3. Some early intutive uses of patterson maps.
4. Further theory of patterson finctions.
5. Patrterson functions for special cases.
6. Patterson projections of symmetricla crystals.
7. Sets of discrete points and their vector sets.
8. Harker sections and implication theory.
9. Symmetry in vector space.
10. Theory of image-seeking finctions.
11. Superposition functions.
12. The use of image-seeking functions in projections.
...Vector space : and its application in crystal-structure investigation [texte imprimé] / Martin Julian Buerger, Auteur . - New York : Wiley, 1959 . - 347 p. : ill. ; 24 cm.
Notes bibliogr. -Index
Langues : Anglais (eng)
Mots-clés : Vector spaces
Crystallography, Mathematical
Espaces vectoriels
Cristallographie mathématiqueIndex. décimale : 548.73 Analyse des cristaux par les rayons X.(Radiographie Röntgen). Recherche des propriétés des cristaux par les rayons X (Röntgenographie). Structure aux rayons X. Note de contenu : In summary :
1. The pahse problem of x-ray erystallography.
2. The patterson function.
3. Some early intutive uses of patterson maps.
4. Further theory of patterson finctions.
5. Patrterson functions for special cases.
6. Patterson projections of symmetricla crystals.
7. Sets of discrete points and their vector sets.
8. Harker sections and implication theory.
9. Symmetry in vector space.
10. Theory of image-seeking finctions.
11. Superposition functions.
12. The use of image-seeking functions in projections.
...Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire 014061 548.73 BUE Papier Bibliothèque Centrale Génie Minier Disponible Consultation sur place 014062 548.73 BUE Papier Bibliothèque Centrale Génie Minier Disponible En bon état
