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Unified methods for VLSI simulation and test generation / Ting-Kwang Cheng

Public ISBD Titre : Unified methods for VLSI simulation and test generation Type de document : texte imprimé Auteurs : Ting-Kwang Cheng, Auteur ; Vishwani D. Agrawal, Auteur Editeur : Boston : Kluwer academic publishers Année de publication : 1989 Autre Editeur : Norwell [États-Unis] : AT&T bell laboratories Collection : The kluwer international series in engineering and computer science Sous-collection : VLSI, computer architecture and digital signal processing num. 73 Importance : XII-148 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-7923-9025-1 Note générale : Bibliogr. p. [113]-143. Index Langues : Anglais (eng) Mots-clés : Integrated  circuits  --  Very  large  scale  integration  --  Computer-aided  design Integrated  circuits  --  Very  large  scale  integration  --  Testing Integrated  circuits  --  Very  large  scale  integration  --  Computer  simulation Index. décimale : 621.382 Dispositifs électroniques utilisant les effets des corps solides. Dispositifs semi-conducteurs Résumé : In ensuring the quality of a VLSI device, the verification of design and testing of the product are two of the most important steps. Unified methods for VLSI simulation and test generation combines the two steps in one CAD tool. Building on the power of event-driven logic simulation and concurent fault simulation, the authors develop a directed-search methodology for the generation of production tests. Note de contenu : Contents: * Logic simulation and fault analysis. * The generation approaches. * Simulation-based directed-search approach. * Threshold-value simulation. * Test generation using threshold-value simulation. * Test generation in concurrent fault simulator. Unified methods for VLSI simulation and test generation [texte imprimé] / Ting-Kwang Cheng, Auteur ; Vishwani D. Agrawal, Auteur . - Kluwer academic publishers : Norwell (États-Unis) : AT&T bell laboratories, 1989 . - XII-148 p. : ill. ; 24 cm. - (The kluwer international series in engineering and computer science. VLSI, computer architecture and digital signal processing; 73) . ISBN : 978-0-7923-9025-1 Bibliogr. p. [113]-143. Index Langues : Anglais (eng) Mots-clés : Integrated  circuits  --  Very  large  scale  integration  --  Computer-aided  design Integrated  circuits  --  Very  large  scale  integration  --  Testing Integrated  circuits  --  Very  large  scale  integration  --  Computer  simulation Index. décimale : 621.382 Dispositifs électroniques utilisant les effets des corps solides. Dispositifs semi-conducteurs Résumé : In ensuring the quality of a VLSI device, the verification of design and testing of the product are two of the most important steps. Unified methods for VLSI simulation and test generation combines the two steps in one CAD tool. Building on the power of event-driven logic simulation and concurent fault simulation, the authors develop a directed-search methodology for the generation of production tests. Note de contenu : Contents: * Logic simulation and fault analysis. * The generation approaches. * Simulation-based directed-search approach. * Threshold-value simulation. * Test generation using threshold-value simulation. * Test generation in concurrent fault simulator.

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité	Etat_Exemplaire
041590	621.382 CHE	Papier	Bibliothèque Centrale	Electronique	Disponible
041393	621.382 CHE	Papier	Bibliothèque Centrale	Electronique	Disponible	En bon état