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Characterization of semiconductor materials / Philip F. Kane

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Titre : Characterization of semiconductor materials
Type de document : texte imprimé
Auteurs : Philip F. Kane, Auteur ; Graydon B. Larrabee, Auteur
Editeur : New York : McGraw-Hill
Année de publication : 1970
Collection : Texas instruments electronics series
Importance : XVI, 351 p.
Présentation : ill.
Format : 26 cm
Note générale : Bibliogr. p. 331-333. - Index
Langues : Anglais (eng)
Mots-clés : Semiconducteurs
Index. décimale : 621.382 Dispositifs électroniques utilisant les effets des corps solides. Dispositifs semi-conducteurs
Note de contenu : Summary :
1. Introduction.
2. Semiconductor principles.
3. Bulk-material characterization.
4. Materials characterization in single-crystal grawth.
5. Analysis of signle crystals for chemical imperfections.
6. Characterization of signle crystals for physical imperfections.
7. Caracterization of semiconductor surfaces.
8. Characterization of epitaxial films.
9. Diffusion.
10. Characterization of thin films.

Characterization of semiconductor materials [texte imprimé] / Philip F. Kane, Auteur ; Graydon B. Larrabee, Auteur . - McGraw-Hill, 1970 . - XVI, 351 p. : ill. ; 26 cm. - (Texas instruments electronics series) .
Bibliogr. p. 331-333. - Index
Langues : Anglais (eng)
Mots-clés : Semiconducteurs
Index. décimale : 621.382 Dispositifs électroniques utilisant les effets des corps solides. Dispositifs semi-conducteurs
Note de contenu : Summary :
1. Introduction.
2. Semiconductor principles.
3. Bulk-material characterization.
4. Materials characterization in single-crystal grawth.
5. Analysis of signle crystals for chemical imperfections.
6. Characterization of signle crystals for physical imperfections.
7. Caracterization of semiconductor surfaces.
8. Characterization of epitaxial films.
9. Diffusion.
10. Characterization of thin films.

Exemplaires

Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Etat_Exemplaire
010101 621.382 KAN Papier Bibliothèque Centrale Electronique Disponible Consultation sur place

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