Titre de série : |
Traité des matériaux, Vol. 3 |
Titre : |
Caractérisation expérimentale des matériaux 2 : analyse par rayons X , électrons et neutrons |
Type de document : |
texte imprimé |
Auteurs : |
Jean-Luc Martin, Auteur ; George , Armand, Auteur |
Editeur : |
Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes |
Année de publication : |
1998 |
Importance : |
367p. |
Présentation : |
ill. |
Format : |
24 cm |
ISBN/ISSN/EAN : |
978-2-88074-364-2 |
Note générale : |
Index. |
Langues : |
Français (fre) |
Mots-clés : |
Matériaux--Rayons X--Electron neutron |
Index. décimale : |
620.18 Analyse de la structure des matériaux. Métallographie |
Résumé : |
Cet ouvrage offre une introduction aux principales techniques de caractérisation structurale et microstructurale des matériaux. Tout en abordant les questions d'analyse chimique élémentaire, le livre met l'accent sur l'étude des microstructures aux échelles allant des distances interatomiques (structures cristallines) à quelques micromètres. Les auteurs décrivent l'origine des interactions rayonnement-matière et leurs principales manifestations, en privilégiant les phénomènes de diffraction dans la matière cristallisée et les méthodes d'imagerie des défauts. L'accent est mis sur les développements récents qu'ont connus les trois classes de technique abordées : nouvelles sources de rayonnement optimisées, microélectronique et techniques informatiques. |
Note de contenu : |
Sommaire:
Généralités sur les interactions rayonnement-matière
Diffusion cohérente des rayonnements par les cristaux
Propagation d'ondes dans les cristaux
Sources de rayons X, conditionnement et analyse des rayons X
Méthodes de caractérisation structurale par diffusion et diffraction des rayons X
Topographie aux rayons X
Microscope électronique à transmission
Informations fournies par le microscope électronique à transmission
Microscope électronique à balayage
Microanalyse par faisceaux d'électrons
Diffusion et diffraction des neutrons
Etude de la microstructure d'un revêtement réalisé par projection thermique |
Traité des matériaux, Vol. 3. Caractérisation expérimentale des matériaux 2 : analyse par rayons X , électrons et neutrons [texte imprimé] / Jean-Luc Martin, Auteur ; George , Armand, Auteur . - Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes, 1998 . - 367p. : ill. ; 24 cm. ISBN : 978-2-88074-364-2 Index. Langues : Français ( fre)
Mots-clés : |
Matériaux--Rayons X--Electron neutron |
Index. décimale : |
620.18 Analyse de la structure des matériaux. Métallographie |
Résumé : |
Cet ouvrage offre une introduction aux principales techniques de caractérisation structurale et microstructurale des matériaux. Tout en abordant les questions d'analyse chimique élémentaire, le livre met l'accent sur l'étude des microstructures aux échelles allant des distances interatomiques (structures cristallines) à quelques micromètres. Les auteurs décrivent l'origine des interactions rayonnement-matière et leurs principales manifestations, en privilégiant les phénomènes de diffraction dans la matière cristallisée et les méthodes d'imagerie des défauts. L'accent est mis sur les développements récents qu'ont connus les trois classes de technique abordées : nouvelles sources de rayonnement optimisées, microélectronique et techniques informatiques. |
Note de contenu : |
Sommaire:
Généralités sur les interactions rayonnement-matière
Diffusion cohérente des rayonnements par les cristaux
Propagation d'ondes dans les cristaux
Sources de rayons X, conditionnement et analyse des rayons X
Méthodes de caractérisation structurale par diffusion et diffraction des rayons X
Topographie aux rayons X
Microscope électronique à transmission
Informations fournies par le microscope électronique à transmission
Microscope électronique à balayage
Microanalyse par faisceaux d'électrons
Diffusion et diffraction des neutrons
Etude de la microstructure d'un revêtement réalisé par projection thermique |
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